使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时,所测的结果:()A、小于实际尺寸B、接近声束宽度C、稍大于实际尺寸D、等于晶片尺寸

使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时,所测的结果:()

  • A、小于实际尺寸
  • B、接近声束宽度
  • C、稍大于实际尺寸
  • D、等于晶片尺寸

相关考题:

超声遇到小于声束直径的红细胞时即可产生_____。

在锻件检测中,对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用半波高度法测定缺陷的指示长度或面积。

钢板超声波探伤,若仪器荧光屏上同时显示底波,缺陷回波,则存在大于声束直径的缺陷。

只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时,才能采用测长法确定缺陷长度。

在锻件检测中, 对于尺寸小于声束截面的缺陷一般采用测长法来测定缺陷的指示面积。

在用5MHZΦ10晶片的直探头作水浸探伤时,所测结果:()A、小于实际尺寸B、接近声束宽度C、大于实际尺寸D、等于晶片尺寸

对于小于声束截面的缺陷可用()评定其大小。A、当量法B、缺陷回波高度法C、底面回波高度法D、延伸度定量评定法

超声探伤中所谓缺陷的指示长度,指的是()。A、采用当量试块比较法测定的结果B、对大于声束的缺陷,采用底波对比而测得的结果C、根据缺陷反射波高和探头移动的距离而测得的结果D、缺陷定量法之一,和AVG曲线的原理相同

与声束不垂直的光滑平面状缺陷反射波的显示不是()。A、回波幅度与底面反射波高度相差不大B、底面反射完全消失C、缺陷反射波高于底面回波D、底波与缺陷波同时存在

半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。

只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时,才需要采用测长法确定缺陷长度。

当用6dB法估计缺陷面积时,估计缺陷长度时,缺陷指示长度必须()该处的声束截面直径(或长度)。A、大于B、等于C、小于

接触法超声波探伤,对大于声束直径的缺陷,可采用()法或叫半波高度法测定其大小。

接触法探伤,对大于声束直径的缺陷,可用()法或叫半波高度法测定缺陷大小。

接触法超声波探伤,对大于声束直径的缺陷,可用()法或叫半波高度法。A、6dBB、相对灵敏度C、绝对灵敏度D、12dB

用直探头探伤,当缺陷小于声束截面时,一般采用()定量;当缺陷大于声束截面时,一般采用()或()定量。

单选题接触法超声波探伤,对大于声束直径的缺陷,可用()法或叫半波高度法。A6dBB相对灵敏度C绝对灵敏度D12dB

单选题使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时,所测的结果:()A小于实际尺寸B接近声束宽度C稍大于实际尺寸D等于晶片尺寸

填空题接触法超声波探伤,对大于声束直径的缺陷,可采用()法或叫半波高度法测定其大小。

单选题在用5MHZΦ10晶片的直探头作水浸探伤时,所测结果:()A小于实际尺寸B接近声束宽度C大于实际尺寸D等于晶片尺寸

填空题接触法探伤,对大于声束直径的缺陷,可用()法或叫半波高度法测定缺陷大小。

单选题当用6dB法估计缺陷面积时,估计缺陷长度时,缺陷指示长度必须()该处的声束截面直径(或长度)。A大于B等于C小于

判断题半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。A对B错

判断题在锻件检测中,对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用半波高度法测定缺陷的指示长度或面积。A对B错

判断题只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时,才能采用测长法确定缺陷长度。A对B错

判断题在锻件检测中, 对于尺寸小于声束截面的缺陷一般采用测长法来测定缺陷的指示面积。A对B错

单选题超声波检测中所谓缺陷的指示长度,指的是()A采用当量试块比较法测定的结果B对大于声束的缺陷,采用底波对比而测得的结果C根据缺陷反射波高和探头移动的距离而测得的结果D缺陷定量法之一,和AVG曲线的原理相同