根据X射线机的X射线束辐射角θ，计算透照场范围的公式为（）。A、D=2F•tg（θ/2）B、D=2tg（θ/2F.C、D=F•tg（θ/2）D、D=2tg（F•θ/2）
根据X射线机的X射线束辐射角θ，计算透照场范围的公式为（）。
- A、D=2F•tg（θ/2）
- B、D=2tg（θ/2F.
- C、D=F•tg（θ/2）
- D、D=2tg（F•θ/2）
相关考题：
镜头的焦距为f，摄像机靶面尺寸为：水平尺寸h及垂直尺寸υ，则镜头的水平视场角ah=()以内。A.2arctg(υ/2f)B.2arctg(h/2f)C.arctg(υ/2f)D.arctg(h/2f)
已知f(x)是二阶可导的函数，y=e2f(x)，A. e2f(x) B. e2f(x)f''(x)C. e2f(x)[2f'(x)] D.2e2f(x) {2[f'(x)]2+f''(x)}
波长为λ的X射线，投射到晶格常数为d的晶体上，取k=1,2,3...,出现X射线衍射加强的衍射角θ（衍射的射线与晶面的夹角）满足的公式为：（A）2dsinθ=kλ (B)dsinθ=kλ（C）2dcosθ=kλ (D)2dcosθ=kλ
波长为λ的x射线，投射到晶格常数为d的晶体上。取k=1，2，3，…，出现x射线衍射加强的衍射角θ(衍射的x射线与晶面的夹角)，满足的公式为( )。A.2dsinθ=kλB.dsinθ=kλC.2dcosθ=kλD.dcosθ=kλ
波长为λ的X射线，投射到晶体常数为d的晶体上，取k=0，2，3，…，出现X射线衍射加强的衍射角θ(衍射的X射线与晶面的夹角)满足的公式为：A. 2dsinθ=kλB. dsinθ=kλC. 2dcosθ=kλD. dcosθ=kλ
已知f(x)是二阶可导的函数，y=e2f(x)，则dy2/dx2为:A. e2f(x)B. e2f(x)f''(x)C. e2f(x)[2f'(x)]D.2e2f(x) {2[f'(x)]2+f''(x)}
设随机变量X的概率密度和分布函数分别是f（x）和F（x），且f（x）=f（-x），则对任意实数a，有F（-a）=（）A、1/2-F（a）B、1/2+F（a）C、2F（a）-1D、1-F（a）
平板工件X射线照相，若透照厚度比满足1.1，则透照一次的有效长度可用（）式计算（式中：L-透照有效长度；F-焦距）A、L=2（0.21）1/2FB、F=2（0.21）1/2LC、L=2（0.21F）1/2D、L=（0.21）1/2F
用倒相法消除外电场对tgδ测量的干扰，需要先在试验电源正、反相两种极性下，测量两组数据：C1tgδ1、C2tgδ2，然后按公式（）计算出试品的实际的tgδ值。A、tgδ=（tgδ1+tgδ2）/2B、tgδ=（C1tgδ1+C2tgδ2）/（C1-C2）C、tgδ=（C1tgδ1+C2tgδ2）/（C1+C2）D、tgδ=（C2tgδ1+C1tgδ2）/（C1+C2）
单选题（2007）波长为λ的X射线，投射到晶体常数为d的晶体上，取k=0，2，3，…，出现X射线衍射加强的衍射角θ（衍射的X射线与晶面的夹角）满足的公式为：（）A2dsinθ=KλBdsinθ=KλC2dcosθ=KλDdcosθ=Kλ
单选题平板工件X射线照相，若透照厚度比满足1.1，则透照一次的有效长度可用（）式计算（式中：L-透照有效长度；F-焦距）AL=2（0.21）1/2FBF=2（0.21）1/2LCL=2（0.21F）1/2DL=（0.21）1/2F