在中薄板的直探头多次反射法探伤中,由于多次反射之间的()作用,使小缺陷多次反射回波高度常常是第一次要比第二次偏低。A、干涉B、叠加C、衍射D、驻波

在中薄板的直探头多次反射法探伤中,由于多次反射之间的()作用,使小缺陷多次反射回波高度常常是第一次要比第二次偏低。

  • A、干涉
  • B、叠加
  • C、衍射
  • D、驻波

相关考题:

超声波探伤中,没有探测盲区的探伤方法是( )。A、反射法B、穿透法C、底面多次回波法D、底面一次回波反射法法

以下指出混响产生的条件最准确的是A、超声投射到肺表面,引起多次反射(也称气体反射)B、超声投射到腹壁和肠管界面,引起多次反射(也称气体反射)C、超声垂直投射到平整界面,超声在探头和界面之间来回反射(引起多次反射)D、超声垂直投射到肺表面,引起多次反射(也称气体反射)E、超声垂直投射到腹壁表面,引起多次反射(也称气体反射)

以下哪种方法不属于纵波直探头法()A、单晶直探头脉冲反射法B、双晶直探头脉冲反射法C、多晶直探头脉冲反射法D、穿透法

在脉冲反射法探伤中判断缺陷存在的根据有()A、缺陷回波B、底波或参考回波的减弱或消失C、接收探头接收到的能量的减弱D、接收探头接收到的能量的增强

在厚焊缝单探头探伤中,垂直焊缝的表面的光滑的裂纹可能:()A、用45°斜探头探出B、用直探头探出C、用任何探头探出D、反射讯号很小而导致漏检

采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度?()A、直探头探伤法B、脉冲反射法C、斜探头探伤法D、穿透法

若用直探头反射法探测厚铸件,为降低粗晶草状回波干扰,可采取()A、采用低频直探头,分层调整探伤灵敏度B、转换为横波探伤C、用水做耦合剂D、不加耦合剂

脉冲反射法可分为缺陷反射法、底波高度法、多次底波法。

在中薄板的直探头多次反射法探伤中,由于多次反射之间的叠加作用,致使小缺陷多次反射回波高度常常是第二次要比第一次高

识别混响伪像最好的方法是()。A、将探头在胸壁表面平行移动B、将探头在腹壁表面平行移动C、将探头适当侧动,勿垂直于胸壁或腹壁,多次气体反射消失D、将探头适当侧动,并适当加压,观察多次反射有无变化E、将探头垂直于胸壁或腹壁表面,看到特征性多次气体反射即可

论述超声波直探头利用多次脉冲反射法识别缺陷的方法。

从超声波近场声压不规则的角度考虑,脉冲反射法不适宜薄板探伤。

中等厚度钢板直探头多次反射法探伤,缺陷位于()时,缺陷回波之间会发生迭加效应。

指出混响产生的条件哪项最准确()。A、超声投射到肺表面,引起多次反射(也称气体反射)B、超声投射到腹壁和肠管界面,引起多次反射(也称气体反射)C、超声垂直投射到平整界面,超声在探头和界面之间来回反射(引起多次反射)D、超声垂直投射到肺表面,引起多次反射(也称气体反射)E、超声垂直投射到腹壁表面,引起多次反射(也称气体反射)

带有斜楔的探头可用于()。A、双晶片垂直法探伤B、斜射法探伤C、纵波垂直法探伤D、反射法探伤

在直探头探伤中,当扩散声束射到侧面上时,产生波的反射,并引起()。

在超声波探伤中由于探头影响反射波高度的因素有()A、探头型式B、晶片尺寸C、波束方向D、上述都有

多次脉冲反射法,不能用来判断工件中缺陷的严重程度。

单选题若用直探头反射法探测厚铸件,为降低粗晶草状回波干扰,可采取()A采用低频直探头,分层调整探伤灵敏度B转换为横波探伤C用水做耦合剂D不加耦合剂

填空题中等厚度钢板直探头多次反射法探伤,缺陷位于()时,缺陷回波之间会发生迭加效应。

单选题超声波探伤中,没有探测盲区的探伤方法是()A反射法B穿透法C底面多次回波法D底面一次回波反射法法

单选题以下哪种方法不属于纵波直探头法()A单晶直探头脉冲反射法B双晶直探头脉冲反射法C多晶直探头脉冲反射法D穿透法

单选题带有斜楔的探头可用于()。A双晶片垂直法探伤B斜射法探伤C纵波垂直法探伤D反射法探伤

单选题采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度()A直探头探伤法B脉冲反射法C斜探头探伤法D穿透法

问答题简述超声波直探头利用多次脉冲反射法识别缺陷的方法。

单选题指出混响产生的条件哪项最准确()。A超声投射到肺表面,引起多次反射(也称气体反射)B超声投射到腹壁和肠管界面,引起多次反射(也称气体反射)C超声垂直投射到平整界面,超声在探头和界面之间来回反射(引起多次反射)D超声垂直投射到肺表面,引起多次反射(也称气体反射)E超声垂直投射到腹壁表面,引起多次反射(也称气体反射)