确定透照灵敏度或象质指数时,以()厚度为准,评定缺陷时,以()厚度为准。A、透照B、母材C、平均D、以上都是

确定透照灵敏度或象质指数时,以()厚度为准,评定缺陷时,以()厚度为准。

  • A、透照
  • B、母材
  • C、平均
  • D、以上都是

相关考题:

对环焊缝作源在外的单壁透照时,确定透照次数与()相关A、透照厚度比、工件外径、工件壁厚B、工件外径、透照厚度比、射线源与工件表面距离C、工件壁厚、透照厚度比、工件外径、射线源与工件表面距D、透照厚度比、工件壁厚/工件外径、工件外径/射线源与工件表面距离

按ASME规范要求,透照双面焊缝的使用孔型象质计,应在象质计下放垫板,垫板厚度应为上下焊缝余高之和。

当采用双壁单影透照法时,象质计应放在()。

确定塑性指数时,液限以76克圆锥仪入土深度()毫米为准;塑性以搓条法为准。A、10mm或17mmB、8mmC、2mmD、5mm

测量变压器绕组绝缘电阻、吸收比或极化指数时,测量温度以绕组温度为准()

像质计灵敏度1.5%,就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可检出。

对于母材厚度不等的对接焊缝,评级时应以()为准。A、薄板厚度B、厚板厚度C、平均板厚D、透照厚度

透照时,确定中心射线束方向时应考虑缺陷延伸方向。

象质计灵敏度1.5%,就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被检出。

象质计的局限性是()。A、不能提供可检出缺陷尺寸的度量指示B、不能提供底片灵敏度的永久证据C、不能比较两种透照技术的质量高低D、不能验证所用透照工艺的适用性

≤φ89mm管子对接接头的RT检测工艺要点是()。A、满足几何不清晰度要求:Ll≥10dL22/3且不小于600mm。B、采用双壁双影透照:一般采用倾斜椭圆透照,焊缝内侧间距3~10mm,且≯15mm,当椭圆透照困难时,可垂直透照。C、按透照厚度选择象质指数,使用等丝专用象质计放于胶片侧。D、以上都是

什么是使用象质计的局限性()A、不能提供射线照相检验灵敏度的永久性证据;B、不能比较两种不同透照技术的质量高低;C、不能提供可检出缺陷尺寸的质量指示;D、不能验证所用透照工艺的适当性。

钛对射线的吸收系数小于钢,在透照钛试件时采用了钢丝象质计,如果底片上显示象质指数刚好达到标准要求,则该底片的灵敏度()A、刚好符合标准要求B、达不到标准要求C、远远超过标准要求D、无法判断

像质计灵敏度1.5%,就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被检出。

象质计的摆放位置应在射线透照区域内显示灵敏度最高的部位。()

平板孔型象质计的象质等级2-IT是指()A、象质计厚度为透照厚度2%,孔径为象质计厚度1倍,等效灵敏度为1.4%B、象质计厚度为透照厚度1%,孔径为象质计厚度2倍,等效灵敏度为1.4%C、象质计厚度为透照厚度2%,孔径为象质计厚度1倍,等效灵敏度为1%D、以上都不对

判断题像质计灵敏度1.5%,就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被检出。A对B错

判断题象质计灵敏度1.5%,就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被检出。A对B错

判断题像质计灵敏度1.5%,就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可检出。A对B错

单选题平板孔型象质计的象质等级2-IT是指:()A象质计厚度为透照厚度2%,孔径为象质计厚度1倍,等效灵敏度为1.4%B象质计厚度为透照厚度1%,孔径为象质计厚度2倍,等效灵敏度为1.4%C象质计厚度为透照厚度2%,孔径为象质计厚度1倍,等效灵敏度为1%D以上都不对

单选题以下关于象质计选用的叙述,哪一条不符合ASME规范的有关规定()A即使是双壁透照,也必须按单壁焊缝厚度选择象质计;B对带垫板焊缝,垫板厚度不计入透照厚度;C对小径管双壁双影透照,可选择普通丝型象质计,也可以选择专用的等径丝型象质计;D以上都是。

单选题钛对射线的吸收系数小于钢,在透照钛试件时采用了钢丝象质计,如果底片上显示象质指数刚好达到标准要求,则该底片的灵敏度()A刚好符合标准要求B达不到标准要求C远远超过标准要求D无法判断

多选题确定透照灵敏度或象质指数时,以()厚度为准,评定缺陷时,以()厚度为准。A透照B母材C平均D以上都是

单选题对于母材厚度不等的对接焊缝,评级时应以()为准。A薄板厚度B厚板厚度C平均板厚D透照厚度

单选题什么是使用象质计的局限性()A不能提供射线照相检验灵敏度的永久性证据;B不能比较两种不同透照技术的质量高低;C不能提供可检出缺陷尺寸的质量指示;D不能验证所用透照工艺的适当性。

单选题象质计的局限性是()。A不能提供可检出缺陷尺寸的度量指示B不能提供底片灵敏度的永久证据C不能比较两种透照技术的质量高低D不能验证所用透照工艺的适用性

判断题按ASME规范要求,透照双面焊缝的使用孔型象质计,应在象质计下放垫板,垫板厚度应为上下焊缝余高之和。A对B错