像质计灵敏度1.5%,就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可检出。

像质计灵敏度1.5%,就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可检出。


相关考题:

被透照焊缝厚度δ=20mm,选用槽形透度计(槽形透度计的总厚度4mm),从底片上可见显示出来的最小槽深为0.5mm,请计算出底片的相对灵敏度和可检出最小缺陷的尺寸是多少?

下述有关像质计特质的叙述中,不正确的是()A、像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B、像质计形状与尺寸都是已知的C、像质计和试件一起成像,而用来鉴定试件品质的重要工具D、像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较

什么是使用像质计的局限性?()A、不能提供射线照相检验灵敏度的永久性证据B、不能比较两种不同透照技术的质量高低;C、不能提供可检出缺陷尺寸的度量指示D、不能验证所用透照工艺的适当性

采用不同的透照方法能获得相同的金属丝像质计灵敏度,但不一定能给出相同的裂纹检出灵敏度。

有关像质计使用的说法正确的是()A、摆放像质计时,摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B、采用单壁透照法时,像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C、当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D、以上都对

像质计需得到2-2T之灵敏度时,对于1.5英寸厚的钢板,像质计的厚度应选择多少?()A、0.3英寸B、0.03英寸C、0.003英寸D、3英寸

象质计灵敏度1.5%,就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被检出。

射线照相灵敏度的绝对灵敏度就是()A、射线照片上可发现的最小缺陷尺寸B、射线照片上可识别的像质计最小细节尺寸C、对所有像质计统一规定的像质指数D、以上都不是

为什么说像质计灵敏度不能等于缺陷灵敏度?

象质计的局限性是()。A、不能提供可检出缺陷尺寸的度量指示B、不能提供底片灵敏度的永久证据C、不能比较两种透照技术的质量高低D、不能验证所用透照工艺的适用性

下面关于像质计的叙述中,正确的是()A、各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式,规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法,它们之间不能简单换算B、各种像质计有自己特定的结构和细节形式,但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的C、用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同,就意味着射线照片的影像质量相同D、以上都不对

确定透照灵敏度或象质指数时,以()厚度为准,评定缺陷时,以()厚度为准。A、透照B、母材C、平均D、以上都是

像质计灵敏度1.5%,就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被检出。

对不同型式的像质计来说,只要采用相同的透照技术,像质计灵敏度的数值一般都相同。

射线透照厚度1.25in的铸件,射线底片上显示出ASTM20#像质计的2T孔,则该底片的当量灵敏度为()。A、 0.8%B、 1.6%C、 2.4%D、 3.2%

用不同的透照方法能获得相同的金属丝像质计灵敏度,()。A、不一定是检出同尺寸裂纹的灵敏度B、就是检出同尺寸裂纹的灵敏度C、是检出同尺寸各种缺陷的灵敏度D、以上都不对

平板孔型象质计的象质等级2-IT是指()A、象质计厚度为透照厚度2%,孔径为象质计厚度1倍,等效灵敏度为1.4%B、象质计厚度为透照厚度1%,孔径为象质计厚度2倍,等效灵敏度为1.4%C、象质计厚度为透照厚度2%,孔径为象质计厚度1倍,等效灵敏度为1%D、以上都不对

问答题为什么说像质计灵敏度不能等于缺陷灵敏度?

判断题像质计灵敏度1.5%,就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被检出。A对B错

判断题象质计灵敏度1.5%,就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被检出。A对B错

判断题像质计灵敏度1.5%,就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可检出。A对B错

单选题射线照相灵敏度的绝对灵敏度就是()A射线照片上可发现的最小缺陷尺寸B射线照片上可识别的像质计最小细节尺寸C对所有像质计统一规定的像质指数D以上都不是

单选题什么是使用像质计的局限性?()A不能提供射线照相检验灵敏度的永久性证据B不能比较两种不同透照技术的质量高低;C不能提供可检出缺陷尺寸的度量指示D不能验证所用透照工艺的适当性

单选题平板孔型象质计的象质等级2-IT是指:()A象质计厚度为透照厚度2%,孔径为象质计厚度1倍,等效灵敏度为1.4%B象质计厚度为透照厚度1%,孔径为象质计厚度2倍,等效灵敏度为1.4%C象质计厚度为透照厚度2%,孔径为象质计厚度1倍,等效灵敏度为1%D以上都不对

多选题确定透照灵敏度或象质指数时,以()厚度为准,评定缺陷时,以()厚度为准。A透照B母材C平均D以上都是

单选题像质计需得到2-2T之灵敏度时,对于1.5英寸厚的钢板,像质计的厚度应选择多少?()A0.3英寸B0.03英寸C0.003英寸D3英寸

单选题象质计的局限性是()。A不能提供可检出缺陷尺寸的度量指示B不能提供底片灵敏度的永久证据C不能比较两种透照技术的质量高低D不能验证所用透照工艺的适用性