若用平晶检测被测件,测量面上的干涉条纹为园形时,其测量面的凹凸情况可以这样进行判定:在平晶中央加压,若干涉条纹向内跑,则说明测量面中间是()。 A、平B、凸C、凹
用对角线法测量平面的平面度误差,对矩形被测平面的测量布线方式,其纵向和横向布线应不少于三个位置。() 此题为判断题(对，错)。
用平晶检定测量面的平面度时，其计算平面度的公式为F=λb/2a或F=n.λ/2，式中λ在任何条件下都为0.6。
测量大型工作台面的平面度误差时，采用（）法，可得较高测量精度A、标准平面研点B、光成基准C、间接测量D、直接测量
对角线法以各测点至评定基面距离的最大正值和最大负值的绝对值之和作为被测平面的平面度误差。
直接用直角尺测量面与面的垂直度误差，容易受到（）的影响。A、基准平面形状误差B、基准平面尺寸精度C、被测平面表面粗糙度D、被测平面尺寸精度
测量高精度的小平面的平面度误差宜用（）。A、准直望远镜B、罐式水平量器C、平晶
在下列几种平面度误差的评定方法中，只有（）符合平面度误差的定义，其余均是近似的评定方法。A、最小区域法：包容实际表面距离为最小的两平行平面间的距离作为平面度误差值B、最大直线度法：以被测平面上个测量截面内的最大直线度误差作为平面度误差值C、三点法：以被测平面上相隔最远的三个点组成的理想平面作为评定误差的基准面，来计算平面度误差D、对角线法：以通过被测平面上的一条对角线且与另一条对角线平行的理想平面为评定基准来计算平面度误差。
测量平面度误差时，常将平面平晶工作面贴在被测表面上，并稍加压力，就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多，则平面度误差（）。
用对角线法测量平面度的实质是通过表面上的一条对角线且平行于第一条对角线的平面作为评定基面（理想平面），以各测点至评定基面的最大正值和最大负值的绝对值之和作为被测平面的平面度误差。
用对角线法测量平面度时，由于布线的原因，在各个方向测量时应采用（）垫块。A、相同长度B、不同长度C、规定的长度
（）是由被测工件测量基面的选定及其安装方式造成。A、原理误差B、制造与装调误差C、测量方法误差D、读数方式误差
用水平仪测量平面度误差时，采用对角线法。测量时其各个方向都必须采用长度相同的支承垫块。
对角线法测量矩形工作台平面度误差时，所用的桥板的中心距长度必须是一样的。
对角线法以各测点至评定基面距离的最大正值和最大负值的绝对值之和作为被测平面的平面误差。
下列关于90°角尺说法正确的是（）。A、用来测量工件被测表面相对其垂直基准面的垂直度误差B、用来测量工件基准面相对其垂直被测表面的垂直度误差
深度游标卡尺尺身和尺框测量面的平面度用一级刀口尺以光隙法检定时应在被检测量面的长短边及（）方向上进行.A、轴向B、径向C、对角线
测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？
量杆尺寸及测量面的平行度在光学计或测长机上采用4等量块以比较法测量，对于平面测量量杆采用（）。A、平面测帽B、球平测帽C、刀口形测帽
用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？
单选题若用平晶检测被测件，测量面上的干涉条纹为园形时，其测量面的凹凸情况可以这样进行判定：在平晶中央加压，若干涉条纹向内跑，则说明测量面中间是（）。A平B凸C凹
单选题深度游标卡尺尺身和尺框测量面的平面度用一级刀口尺以光隙法检定时应在被检测量面的长短边及（）方向上进行.A轴向B径向C对角线
判断题用平晶检定测量面的平面度时，其计算平面度的公式为F=λb/2a或F=n.λ/2，式中λ在任何条件下都为0.6。A对B错
单选题量杆尺寸及测量面的平行度在光学计或测长机上采用4等量块以比较法测量，对于平面测量量杆采用（）。A平面测帽B球平测帽C刀口形测帽