质量统计控制图的上、下控制限可以用来()。A、判断产品是否合格B、判断过程是否稳定C、判断过程能力是否满足技术要求D、判断过程中心与技术中心是否发生偏移
质量统计控制图的上、下控制限可以用来()。
- A、判断产品是否合格
- B、判断过程是否稳定
- C、判断过程能力是否满足技术要求
- D、判断过程中心与技术中心是否发生偏移
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分析用控制图主要分析内容有( )。A.该过程的不合格品率B.该过程的能力指数是否符合规定要求(也称技术稳态)C.所分析的过程是否处于统计控制状态(也称统计稳态)D.所分析的过程是否满足顾客要求E.分析过程的合格品率
均值-极差控制图上有中心线CL、上控制界限UCL和下控制LCL,其中,均值控制图的上、下控制界限可以用来判断() A.过程是否稳定B.过程中心与规格中心是否发生偏移C.与规格要求对比,判断过程能力是否充分D.是否有不合格品产生
统计过程控制主要包括( )两个方面的内容。A.应用分析用控制图和控制用控制图B.利用控制图分析过程的稳定性和评价过程质量C.评价过程性能和评价过程能力D.判断过程是否处于技术控制状态和评价过程性能
-s图的绘图步骤包括( ),延长统计控制状态下的-s控制图的控制限,进入控制用控制图阶段,实现对过程的日常控制。 A.依据合理子组原则,取得预备数据C.计算-s图的控制限,绘制控制图D.与容差限比较,计算过程能力指数E.检验过程能力指数是否满足技术要求
分析用控制图主要分析内容有( )。A.该过程的不合格品率B.该过程的能力指数是否满足要求(也称技术稳态)C.所分析的过程是否处于统计控制状态(也称统计稳态)D.所分析的过程是否满足顾客要求E.分析过程的合格品率
作为分析用控制图,主要分析的内容包括( )。A.分析生产过程是否处于统计控制状态B.分析该过程的过程能力指数是否满足要求C.分析有偏移情况的过程能力指数D.计算过程的不合格品率E.计算过程的偏移系数
控制图上有中心线CL、上控制界限UCL和下控制界限LCL,其中,上、下控制界限可以用来判断()。A、产品是否合格B、过程是否稳定C、过程能力是否满足技术要求D、过程中心与规格中心是否发生偏移
单选题统计过程控制主要包括( )两个方面的内容。[2008年真题]A应用分析用控制图和控制用控制图B利用控制图分析过程的稳定性和评价过程质量C评价过程性能和评价过程能力D判断过程是否处于技术控制状态和评价过程性能
多选题作为分析用控制图,主要分析的内容包括( )。A分析生产过程是否处于统计控制状态B分析该过程的过程能力指数是否满足要求C分析有偏移情况的过程能力指数D计算过程的不合格品率E计算过程的偏移系数
单选题管制图的控制限可以用来().A判断产品是否合格B判断过程是否稳定C判断过程能力是否满足技朮要求D判断过程中心与技朮中心是否发生偏移