影响X射线荧光光谱分析的主要因素有:()、()和()三大方面。
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。
X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
X射线荧光光谱分析中，对于不同元素的同名谱线，随着原子序数的增加，波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点，主要是由各种元素的化学成分决定的。
以下说法错误的是（）A、X射线荧光光谱分析时，枪头可以对着人B、X射线荧光光谱分析时，严禁雨天在室外进行光谱分析工作，避免仪器受雨淋C、X射线荧光光谱分析时，严禁在易燃易爆物品附近进行D、X射线荧光光谱分析在高空作业时，人和机器要有防坠装置
利用手持式X射线荧光光谱分析仪检测时，分析铁基材料中Al时，不能使用含硅的磨料对分析面进行打磨处理。
在X射线荧光光谱分析法中，除存在谱线重迭干扰外还存在（）干扰。
X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。
荧光光谱分析，用铂金坩埚溶片时，先要在铂金坩埚底部铺满（），以免金属单质腐蚀坩埚。A、硝酸锂B、四硼酸锂C、溴化锂D、试样
X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。
玻璃熔片X荧光仪分析，在熔制玻璃片时，采用坩埚是（）的。A、铂金B、黄金C、白银D、铁的
X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。
在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
在x射线荧光分析法中，由x射线管直接产生的x射线是（）。A、一次X射线B、二次X射线C、次级射线D、X荧光
在X射线光谱分析中，光管产生的X射线波长应（）样品中待测元素的X射线波长。A、小于B、等于C、大于
X射线荧光光谱分析是相对分析方法，需要通过测试（）来确定待测样品的含量。
采用玻璃熔片X射线荧光光谱法测定铁矿石中化学成分，在熔融制样过程中滴加碘化铵，其作用是氧化铁矿石中还原物质，保护坩埚。
进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。
问答题简述X射线荧光光谱分析的基本原理和主要用途。
单选题油料光谱分析法按应用可分为（）光谱分析。 Ⅰ．原子吸收； Ⅱ．发射； Ⅲ．X射线荧光。AⅠ+ⅡBⅠ+ⅢCⅡ+ⅢDⅠ+Ⅱ+Ⅲ
多选题手持式X射线荧光光谱分析仪，以下不可检测的元素成分是（）AMoBBCSnDN
判断题利用手持式X射线荧光光谱分析仪检测时，分析铁基材料中Al时，不能使用含硅的磨料对分析面进行打磨处理。A对B错
单选题用于动力装置油料分析的光谱仪按其对光谱分析方法的应用可分为（）。 Ⅰ．X射线荧光光谱分析； Ⅱ．原子吸收光谱分析； Ⅲ．发射光谱分析。A仅仅是ⅠBⅡ+ⅢCⅠ+ⅡDⅠ+Ⅱ+Ⅲ
单选题以下说法错误的是（）AX射线荧光光谱分析时，枪头可以对着人BX射线荧光光谱分析时，严禁雨天在室外进行光谱分析工作，避免仪器受雨淋CX射线荧光光谱分析时，严禁在易燃易爆物品附近进行DX射线荧光光谱分析在高空作业时，人和机器要有防坠装置