利用X荧光光谱仪测S时用下面哪块晶体进行分光()A、LiF220B、LiF200C、Ge111D、PE002

利用X荧光光谱仪测S时用下面哪块晶体进行分光()

  • A、LiF220
  • B、LiF200
  • C、Ge111
  • D、PE002

相关考题:

对于金属类文物,在做科技防腐保护前需进行科学的材质认定工作。下面哪种仪器可以完成此项工作?()A、红外光谱仪B、X荧光能谱仪C、X射线衍射仪D、激光拉曼光谱仪

利用X荧光光谱仪分析试样中的As、Pb时,AsKα线与PbLα线有干扰,则应选择()线进行分析。

在X射线荧光光谱仪的分光系统中,一般有()个准直器。A、一B、二C、三

测P时用下面哪块晶体进行分光()A、LiF220B、Ge111C、LiF200D、PE002

()是X射线荧光光谱仪的分光器件。A、石英棱镜B、光栅C、分光晶体D、卤素盐棱镜

手持式X射线荧光光谱仪测金属镀层厚度,不受基体金属的种类影响。

X射线荧光光谱仪和光电直读光谱仪一样,都是采用光栅作为分光元件。

波长色散X射线荧光光谱仪上,在晶体和探测器之间的光束是()光束。A、混合B、连续C、单色D、散射

波长色散X射线荧光光谱仪是利用()将不同波长的X射线荧光分开,得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜

X射线荧光光谱仪采用()作为分光元件。A、棱镜B、光栅C、晶体D、入射狭缝

波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感,温度变化会引起晶体面间距值的变化,导致谱线的位移。

()是X射线荧光光谱仪的分光器件。A、石英棱镜B、光栅C、分光晶体D、卤化物棱镜

X射线荧光光谱仪均使用分光晶体。

柳钢使用的AxiosX荧光光谱仪安装有:()五块衍射晶体。

X荧光光谱仪衍射晶体的选择原则有哪些?

X射线荧光光谱仪需要外接冷却水,其作用是为了冷却()。A、X射线管B、分光室C、内部冷却水和X光管阴极灯丝

X射线荧光分析中分光元件是()。A、棱镜B、光栅C、分光晶体D、光电倍增管

通常可用来做X射线荧光分光晶体的是()。A、NaFB、NaClC、LiF

X射线荧光仪和光电直读光谱仪分别采用()和()来接受被测元素特征光谱信号的。

X射线荧光光谱仪按分光方式不同可分为()和()两大类。

X射线荧光光谱仪分光方法有()和(),分别用平晶和弯晶分光。

具有将x射线荧光按波长顺序分开成光谱作用的主件是()。A、计数器B、放大器C、分光晶体D、测角仪

光电直读光谱仪采用()分光。A、棱镜B、光栅C、晶体

X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与()之间。A、X射线管B、晶体C、探测器

AxiosX荧光光谱仪停机超过24小时,需对X-RayTube进行()处理。

波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的()现象使不同波长的X射线分开,以便从中选择被测元素的()谱线进行测定。A、反射B、衍射C、折射D、特征

X-荧光波谱分析仪(品位仪)的分光元件一般是晶体。