焊缝斜角探伤时,荧光屏上的反射波来自:()A、焊道B、缺陷C、结构D、以上全部

焊缝斜角探伤时,荧光屏上的反射波来自:()

  • A、焊道
  • B、缺陷
  • C、结构
  • D、以上全部

相关考题:

锻件超声波探伤中,荧光屏上出现“淋状波”时,是由于()。 A、工件中有大面积倾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部

焊缝斜角探伤时,荧光屏上显示的反射波来自( )A.焊道B.缺陷C.结构D.以上全部

锻件探伤时,那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波?()A.边缘效应B.工件形状及外形轮廓C.迟到波D.以上全部

焊缝斜角探伤中,如采用直射法,可不考虑结构反射、变型波等干扰回波的影响。

表面波探伤时,仪器荧光屏屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表()A、缺陷深度B、缺陷至探头前沿距离C、缺陷声程D、以上都可以

锻件探伤时,那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波?()A、边缘效应B、工件形状及外形轮廓C、迟到波D、以上全部

焊缝斜角探伤时,荧光屏上显示的反射波来自()A、焊道B、缺陷C、结构D、以上全部

锻件探伤中,荧光屏上出现“林状波”时,是由于()A、工件中有大面积倾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部

焊缝斜角探伤时,正确调节仪器扫描比例时为了:()A、缺陷定位B、缺陷定量C、判定结构反射波和缺陷波D、以上A和C

斜角探伤时,焊缝中的近表面缺陷不容易探测出来,其原因是()A、近场效应B、受分辨力影响C、盲区D、受反射波影响

锻件探伤时,哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波()A、边缘效应B、工件形状及外形轮廓C、缺陷形状和取向D、以上全部

焊缝斜角探伤时,如采用直射法,应该考虑()等干扰回波的影响。A、结构反射和变型波B、板材底面回波C、三角反射D、以上全部

锻件探伤时,()会在荧光屏上产生非缺陷回波。A、边缘效应B、工件形状及外形轮廓C、迟到波D、以上全部

焊缝斜角探伤中,裂纹等危害性缺陷的反射波幅总是很高的。()

表面波探伤时,仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表()。A、缺陷深度B、缺陷至探头前沿距离C、缺陷声程D、以上都可以

焊缝斜探头探伤时,正确调节仪器扫描比例是为了()。A、缺陷定位B、判定缺陷波幅C、判定结构反射波和缺陷波D、判定缺陷性质

焊缝斜角探伤时,正确调节仪器扫描比例是为了()A、缺陷定位B、缺陷定量C、判定缺陷反射波和缺陷波D、以上A和C

单选题焊缝斜角探伤时,荧光屏上的反射波来自:()A焊道B缺陷C结构D以上全部

判断题采用双探头串列法扫查焊缝时,位于焊缝深度方向任何部位的缺陷,其反射波均出现在荧光屏上同一位置。A对B错

单选题焊缝斜角探伤时,荧光屏上显示的反射波来自()A焊道B缺陷C结构D以上全部

单选题斜角探伤时,焊缝中的近表面缺陷不容易探测出来,其原因是()A近场效应B受分辨力影响C盲区D受反射波影响

多选题焊缝斜探头探伤时,正确调节仪器扫描比例是为了()。A缺陷定位B判定缺陷波幅C判定结构反射波和缺陷波D判定缺陷性质

单选题焊缝斜角探伤时,正确调节仪器扫描比例时为了:()A缺陷定位B缺陷定量C判定结构反射波和缺陷波D以上A和C

单选题焊缝斜角探伤时,正确调节仪器扫描比例是为了()A缺陷定位B缺陷定量C判定缺陷反射波和缺陷波D以上A和C

判断题焊缝斜角探伤中,如采用直射法,可不考虑结构反射、变型波等干扰回波的影响。A对B错

单选题锻件探伤时,那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波?()A边缘效应B工件形状及外形轮廓C迟到波D以上全部

单选题焊缝斜角检测时,正确调节仪器扫描比例是为了:()A缺陷定位B缺陷定量C判断结构反射波和缺陷波D以上A和C