问答题为什么说像质计灵敏度不能等于缺陷灵敏度？

问答题
为什么说像质计灵敏度不能等于缺陷灵敏度？

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不同像质计给出的射线照相灵敏度之间（）A、有直接换算公式B、不能简单互换C、可以简单互换D、以上都不是
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什么是使用像质计的局限性？（）A、不能提供射线照相检验灵敏度的永久性证据B、不能比较两种不同透照技术的质量高低；C、不能提供可检出缺陷尺寸的度量指示D、不能验证所用透照工艺的适当性
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像质计是判别射线照像质量和测定照像灵敏度的器件。
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采用不同的透照方法能获得相同的金属丝像质计灵敏度，但不一定能给出相同的裂纹检出灵敏度。
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像质计灵敏度1.5%，就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可检出。
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像质计是用来鉴定（）A、影像灵敏度B、影像黑度C、射线强度D、电流大小
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有关像质计使用的说法正确的是（）A、摆放像质计时，摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B、采用单壁透照法时，像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C、当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D、以上都对
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像质计需得到2-2T之灵敏度时，对于1.5英寸厚的钢板，像质计的厚度应选择多少？（）A、0.3英寸B、0.03英寸C、0.003英寸D、3英寸
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在底片黑度，象质计灵敏度符合要求的情况下，哪些缺陷仍会漏检？
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射线照相灵敏度的绝对灵敏度就是（）A、射线照片上可发现的最小缺陷尺寸B、射线照片上可识别的像质计最小细节尺寸C、对所有像质计统一规定的像质指数D、以上都不是
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为什么说像质计灵敏度不能等于缺陷灵敏度？
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下面关于像质计的叙述中，正确的是（）A、各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式，规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法，它们之间不能简单换算B、各种像质计有自己特定的结构和细节形式，但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的C、用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同，就意味着射线照片的影像质量相同D、以上都不对
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像质计的摆放位置应是射线照射范围内显示灵敏度最（）的位置
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像质计灵敏度1.5%，就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被检出。
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对不同型式的像质计来说，只要采用相同的透照技术，像质计灵敏度的数值一般都相同。
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用不同的透照方法能获得相同的金属丝像质计灵敏度，（）。A、不一定是检出同尺寸裂纹的灵敏度B、就是检出同尺寸裂纹的灵敏度C、是检出同尺寸各种缺陷的灵敏度D、以上都不对
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平板孔型象质计的象质等级2-IT是指（）A、象质计厚度为透照厚度2%，孔径为象质计厚度1倍，等效灵敏度为1.4%B、象质计厚度为透照厚度1%，孔径为象质计厚度2倍，等效灵敏度为1.4%C、象质计厚度为透照厚度2%，孔径为象质计厚度1倍，等效灵敏度为1%D、以上都不对
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判断题像质计灵敏度1.5%，就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被检出。A对B错
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填空题像质计的摆放位置应是射线照射范围内显示灵敏度最（）的位置
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单选题不同像质计给出的射线照相灵敏度之间（）A有直接换算公式B不能简单互换C可以简单互换D以上都不是
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判断题像质计灵敏度1.5%，就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可检出。A对B错
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单选题射线照相灵敏度的绝对灵敏度就是（）A射线照片上可发现的最小缺陷尺寸B射线照片上可识别的像质计最小细节尺寸C对所有像质计统一规定的像质指数D以上都不是
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单选题什么是使用像质计的局限性？（）A不能提供射线照相检验灵敏度的永久性证据B不能比较两种不同透照技术的质量高低；C不能提供可检出缺陷尺寸的度量指示D不能验证所用透照工艺的适当性
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单选题像质计是用来鉴定（）A影像灵敏度B影像黑度C射线强度D电流大小
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问答题在底片黑度，象质计灵敏度符合要求的情况下，哪些缺陷仍会漏检？
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单选题下面关于像质计的叙述中，正确的是（）A各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式，规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法，它们之间不能简单换算B各种像质计有自己特定的结构和细节形式，但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的C用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同，就意味着射线照片的影像质量相同D以上都不对
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单选题有关像质计使用的说法正确的是（）A摆放像质计时，摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B采用单壁透照法时，像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D以上都对
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