判断题用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果好。A对B错

判断题
用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果好。
A

B


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用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。()此题为判断题(对,错)。

用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果好。()

用单探头法,要发现与声束取向不良的缺陷,应采用的探头频率()。A、愈高愈好B、愈低愈好C、不太高的频率D、较寻常为高的频率

与表面光滑的零件相比检验粗糙零件时一般应采用( )。A、较低频率的探头和较粘的耦合剂B、较高频率的探头和较粘的耦合剂C、较高频率的探头和粘度较小的耦合剂D、较低频率的探头和粘度较小的耦合剂

由于声束扩散原因引起的声衰减,可以克服的方法是A、降低帧频B、提高帧频C、变换探头频率D、声束聚焦E、降低探头频率

与表面光滑的工件相比,检验表面粗糙的工件时,一般应采用()A.较低频率的探头和较粘的耦合剂B.较高频率的探头和较粘的耦合剂C.较高频率的探头和粘度较小的耦合剂D.较低频率的探头和粘度较小的耦合剂

采用超声法对钢结构进行内部缺陷探伤时,如材料较厚时宜选用发射频率较高的探头。

与表面光滑的零件相比,表面粗糙的零件探伤时通常需要使用()A、频率较低的探头和粘度较高的耦合剂B、频率较高的探头和粘度较低的耦合剂C、频率较高的探头和粘度较高的耦合剂D、频率较低的探头和粘度较低的耦合剂

与表面光滑的零件相比,检验表面粗糙的零件时一般应采用()。A、较低频率探头和较粘的耦合剂B、较低频率探头和粘度较小的耦合剂C、较高频率探头和较粘的耦合剂D、较高频率探头和粘度较小的耦合剂

用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷,应采用的频率()A、越高越好B、越低越好C、不太高的频率D、较寻常为高的频率

用单探头发现与声束取向不良的缺陷,应该采用的频率是()。A、越高越好B、越低越好C、适当偏低的频率D、较平常为高的频率

用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷,应该采用不太高的频率。

探头晶片面积相同,高频率探头的声束扩散角要比低频率探头的声束扩散角大。

用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。

选择探头K值时,应考虑缺陷的取向,应尽可能使声束与缺陷垂直

用直探头探伤,当缺陷小于声束截面时,一般采用()定量;当缺陷大于声束截面时,一般采用()或()定量。

用单探头法,要发现与声束取向不良的缺陷,应采用的探头频率()。A、愈高愈好B、愈低愈好C、不太高D、较寻常时取高值

如果探测面粗糙,应该采用较高频率的探头探伤。

当焊缝中的缺陷与声束成一定角度时,探测频率较高时,缺陷回波不易被探头接收。

判断题探头晶片面积相同,高频率探头的声束扩散角要比低频率探头的声束扩散角大。A对B错

判断题用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果好。A对B错

单选题用单探头法,要发现与声束取向不良的缺陷,应采用的探头频率()。A愈高愈好B愈低愈好C不太高D较寻常时取高值

判断题用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。A对B错

填空题用直探头探伤,当缺陷小于声束截面时,一般采用()定量;当缺陷大于声束截面时,一般采用()或()定量。

单选题与表面光滑的零件相比检验粗糙零件时一般应采用()A较低频率的探头和较粘的耦合剂B较高频率的探头和较粘的耦合剂C较高频率的探头和粘度较小的耦合剂D较低频率的探头和粘度较小的耦合剂

单选题与表面光滑的零件相比,表面粗糙的零件探伤时通常需要使用()A频率较低的探头和粘度较高的耦合剂B频率较高的探头和粘度较低的耦合剂C频率较高的探头和粘度较高的耦合剂D频率较低的探头和粘度较低的耦合剂

单选题与表面光滑的工件相比,检验表面粗糙的工件时,一般应采用()A较低频率的探头和较粘的耦合剂B较高频率的探头和较粘的耦合剂C较高频率的探头和粘度较小的耦合剂D较低频率的探头和粘度较小的耦合剂

单选题用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷,应该采用的频率()。A越高越好B越低越好C不太高的频率D较寻常为高的频率