单选题下列关于Cp和Cpk的说法中,不正确的是(  )。ACp越大,质量能力越强B有偏移情况的Cpk表示过程中心μ与规范中心M偏移情况下的过程能力指数,Cpk越大,则二者偏离越小,是过程的“质量能力”与“管理能力”二者综合的结果CCp的着重点在于质量能力DCpk的着重点在于管理能力,没有考虑质量能力

单选题
下列关于Cp和Cpk的说法中,不正确的是(  )。
A

Cp越大,质量能力越强

B

有偏移情况的Cpk表示过程中心μ与规范中心M偏移情况下的过程能力指数,Cpk越大,则二者偏离越小,是过程的“质量能力”与“管理能力”二者综合的结果

C

Cp的着重点在于质量能力

D

Cpk的着重点在于管理能力,没有考虑质量能力


参考解析

解析: 无偏移情况的Cp,表示过程加工的一致性,即“质量能力”,Cp越大,质量能力越强;而有偏移情况的Cpk表示过程中心μ与规范中心M偏移情况下的过程能力指数,Cpk越大,则二者偏离越小,是过程的“质量能力”与“管理能力”二者综合的结果。

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下列关于Cp和Cpk的说法中,不正确的是( )。A.Cp越大,质量能力越强B.有偏移情况的Cpk表示过程中心μ与规范中心M偏移情况下的过程能力指数,Cpk越大,则二者偏离越小,是过程的“质量能力”与“管理能力”二者综合的结果C.Cp的着重点在于质量能力D.Cpk的着重点在于管理能力,没有考虑质量能力

下列有关Cp,Cpk的叙述正确的是( )。A.Cp——无偏移短期过程能力指数,Cpk——有偏移短期过程能力指数B.Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数,Cpk——有偏移短期过程能力指数C.Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数,Cpk——无偏移下单侧短期过程能力指数D.Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数,Cpk——有偏移下单侧短期过程能力指数

在解释Cp和Cpk的关系时,下列表述正确的是( )。A.规格中心与分布中心重合时,Cp=CpkB.Cpk是大于或等于CpC.Cp和Cpk之间没有关系D.Cpk总是小于Cp

某轴承轴径的规范限为6.8±0.1mm,其在统计控制状态下服从N(6.75,0.022),则下列说法中,正确的有( )。A.Cp=l.0B.Cp=1.67C.Cpk=1.67D.CpK=0.83E.CpK=0.5

在过程控制中,若TL=-3,Tu=3,μ=1,ó=1,则( )。A.Cp=1B.Cp=2/3C.Cpk=1D.Cpk=2/3E.Cpk=4/3

关于Cp与Cpk的说法,正确的有( )。A.只有在过程处于统计控制状态才能计算B.Cp仅能用于双侧规范限的情况C.Cpk可以反映过程中心的偏移D.一般来说,Cpk不大于CpE.在过程能力分析时只考虑其中一个即可

两个过程能力指数Cp与Cpk间的关系是( )。A.Cp≤CpkB.Cpk≤CpC.Cp/Cpk=1-KD.Cp/Cpk=1+K

在过程控制中,若TL=-3,Tu=3,u=1,σ=1,则( )。A.CP=1B.CP=2/3C.CPk=1D.CPk=2/3

在解释Cp和Cpk的关系时,正确的表述是( )。A.规格中心与分布中心重合时,Cp =CpkB. Cpk总是大于或等于CpC. Cp和Cpk之间没有关系D. Cpk总是小于Cp

下列有关Cp、Cpk的叙述正确的是( )。A. Cp-无偏移短期过程能力指数,Cpk-有偏移短期过程能力指数B.Cp-无偏移上单侧短期过程能力指数, Cpk--有偏移短期过程能力指数 C.Cp -无偏移上单侧短期过程能力指数,Cpk--无偏移下单侧短期过程能力指数 D. Cp--无偏移上单侧短期过程能力指数,Cpk--有偏移下单侧短过程能力指数Cpk

在解释Cp和Cpk的关系时,下列表述正确的是( )。A.规格中心与分布中心重合时,Cp=CpkB. Cpk总是大于或等于CpC. Cp和Cpk之间没有关系D. Cpk总是小于Cp

某轴承轴径的规范限为6.8±0.1 mm,其在统计控制状态下服从N(6. 75,0.022),则下列说法中,正确的有()。A. Cp = 1. 0 B. Cp = 1. 67C. CpK = 1. 67 D. CpK = 0. 83E. CPK=0. 5

对于过程能力指数Cp、Cpk,以下理解错误的是()A、当Cp与Cpk较小(如小于0.5)时,则客户所要求的公差可能较宽松,合格品率高B、在某些特殊情况下,Cpk可能会大于CpC、对于供应商而言,通过分析供应商的Cp与Cpk可以了解各个供应商的质量水平,并要求Cp、Cpk大的供应商进行整改D、CNC车床加工产品尺寸显示Cpk值小,但Cp值大,代表尺寸中心偏倚,可以进行加工设备参数的调校过程

关于CP、CPK的说法,正确的是()A、CP大于或等于CPKB、CP大于或等于KCPC、CP很大,CPK很小,说明过程的散布很小,均值偏离中心很大D、CP很大,CPK很小,说明过程的散布很大,均值偏离中心很小

两个过程能力指数Cp与Cpk间的关系是()A、Cp≤CpkB、Cpk≤CpC、Cp/Cpk=1-KD、Cp/Cpk=1+K

在解释Cp和Cpk的关系时,正确的表述是()。A、规格中心与分布中心重合时,Cp=CpkB、Cpk总是大于或等于CpC、Cp和Cpk之间没有关系D、Cpk总是小于Cp

关于linux系统中别名的定义,下列选项中不正确的是()。A、alias copy="cp"B、alias copy='cp'C、alias copy=`cp`D、alias copy=cp

下面是对工程能力研究时的几种描述,其中不正确的是()A、Cpk可以是负值;B、Cp与Cpk可以相等C、Cpu与Cpl可以相等D、Cp可以是负值

请指出下列哪些过程的过程能力较高()。A、CP=1.5 Cpk=1.33B、CP=2.0 Cpk=1.67C、CP=2.0 Cpk=2.1

关于Cp和Cpk的概念,下列哪个是正确的?()A、Cp综合反应过程变差及其与target的关系,Cpk仅反应数据分布的稳定程度B、Cp仅反应数据分布的稳定程度,Cpk仅反应与target的关系C、Cp仅反应数据分布的稳定程度,Cpk综合反应过程变差及其与target的关系

对于正态分布的过程,有关Cp、Cpk和缺陷率的说法,正确的是()A、根据Cp不能估计缺陷率,根据Cpk才能估计缺陷率B、根据Cp和Cpk都能估计缺陷率C、缺陷率与Cp和Cpk无关D、以上说法都不对

多选题关于CP、CPK的说法,正确的是()ACP大于或等于CPKBCP大于或等于KCPCCP很大,CPK很小,说明过程的散布很小,均值偏离中心很大DCP很大,CPK很小,说明过程的散布很大,均值偏离中心很小

单选题对于正态分布的过程,有关Cp、Cpk和缺陷率的说法,正确的是()A根据Cp不能估计缺陷率,根据Cpk才能估计缺陷率B根据Cp和Cpk都能估计缺陷率C缺陷率与Cp和Cpk无关D以上说法都不对

单选题在解释Cp和Cpk的关系时,正确的表述是(  )。A规格中心与分布中心重合时,Cp=CpkBCpk 总是大于或等于CpCCp和Cpk之间没有关系DCpk 总是小于Cp

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单选题关于Cp和Cpk的概念,下列哪个是正确的?()ACp综合反应过程变差及其与target的关系,Cpk仅反应数据分布的稳定程度BCp仅反应数据分布的稳定程度,Cpk仅反应与target的关系CCp仅反应数据分布的稳定程度,Cpk综合反应过程变差及其与target的关系

单选题下列关于SPC的目的和作用说法正确的是()。ASPC的目的和作用是统计OOC/OOS,CP和CPK等指数BSPC的目的和作用是通过监控OOC/OOS,计算CP和CPK等指数,帮助工艺和生产人员采取适当之措施,实现过程的持续改进CSPC的目的和作用是实现OOC/OOS报警,计算CP和CPK,让生产人员忙个不停