对于正态分布的过程，有关Cp、Cpk和缺陷率的说法，正确的是（）A、根据Cp不能估计缺陷率，根据Cpk才能估计缺陷率B、根据Cp和Cpk都能估计缺陷率C、缺陷率与Cp和Cpk无关D、以上说法都不对
对于正态分布的过程，有关Cp、Cpk和缺陷率的说法，正确的是（）
- A、根据Cp不能估计缺陷率，根据Cpk才能估计缺陷率
- B、根据Cp和Cpk都能估计缺陷率
- C、缺陷率与Cp和Cpk无关
- D、以上说法都不对
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下列有关Cp，Cpk的叙述正确的是( )。A．Cp——无偏移短期过程能力指数，Cpk——有偏移短期过程能力指数B．Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数，Cpk——有偏移短期过程能力指数C．Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数，Cpk——无偏移下单侧短期过程能力指数D．Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数，Cpk——有偏移下单侧短期过程能力指数
某轴承轴径的规范限为6.8±0.1mm，其在统计控制状态下服从N(6.75，0.022)，则下列说法中，正确的有（ ）。A.Cp=l.0B.Cp=1.67C.Cpk=1.67D.CpK=0.83E.CpK=0.5
下列有关Cp、Cpk的叙述正确的是（ ）。A. Cp-无偏移短期过程能力指数，Cpk-有偏移短期过程能力指数B.Cp-无偏移上单侧短期过程能力指数， Cpk--有偏移短期过程能力指数 C.Cp -无偏移上单侧短期过程能力指数，Cpk--无偏移下单侧短期过程能力指数 D. Cp--无偏移上单侧短期过程能力指数，Cpk--有偏移下单侧短过程能力指数Cpk
关于Cp与CpK的说法，正确的有（ ）。A.只有在过程处于统计控制状态才能计算B. Cp仅能用于双侧规范限的情况C. Cpk可以反映过程中心的偏移 D. —般来说，Cpk不大于CpE.在过程能力分析时只考虑其中一个即可
下列关于Cp和Cpk的说法中，不正确的是（ ）。A. Cp越大，质量能力越强B.有偏移情况的Cpk表示过程中心μ与规范中心M偏移情况下的过程能力指数，Cpk越大，则二者偏离越小，是过程的“质量能力”与“管理能力”二者综合的结果C. Cp的着重点在于质量能力D. Cpk的着重点在于管理能力，没有考虑质量能力
对于过程能力指数Cp、Cpk，以下理解错误的是（）A、当Cp与Cpk较小（如小于0.5）时，则客户所要求的公差可能较宽松，合格品率高B、在某些特殊情况下，Cpk可能会大于CpC、对于供应商而言，通过分析供应商的Cp与Cpk可以了解各个供应商的质量水平，并要求Cp、Cpk大的供应商进行整改D、CNC车床加工产品尺寸显示Cpk值小，但Cp值大，代表尺寸中心偏倚，可以进行加工设备参数的调校过程
某一稳定的零件生产过程质量特性值具有双侧公差，零件质量特性均值比公差中心值稍大些，过程能力指数不能令人完全满意。后来生产过程获得了改进，其标准差降低为原来标准差的90%，均值维持不变。这时，对于能力指数Cp和Cpk的改进状况可以得到的结论是：（）A、Cp提高约11%，Cpk也提高约11%B、Cp提高约11%，Cpk的提高值比11%要大C、Cp提高约11%，Cpk的提高值比11%要小D、对于Cp及Cpk的提高值都完全无法断定
关于CP、CPK的说法，正确的是（）A、CP大于或等于CPKB、CP大于或等于KCPC、CP很大，CPK很小，说明过程的散布很小，均值偏离中心很大D、CP很大，CPK很小，说明过程的散布很大，均值偏离中心很小
关于Cp和Cpk的概念，下列哪个是正确的？（）A、Cp综合反应过程变差及其与target的关系，Cpk仅反应数据分布的稳定程度B、Cp仅反应数据分布的稳定程度，Cpk仅反应与target的关系C、Cp仅反应数据分布的稳定程度，Cpk综合反应过程变差及其与target的关系
单选题对于正态分布的过程，有关Cp、Cpk和缺陷率的说法，正确的是（）A根据Cp不能估计缺陷率，根据Cpk才能估计缺陷率B根据Cp和Cpk都能估计缺陷率C缺陷率与Cp和Cpk无关D以上说法都不对
多选题对于过程能力指数Cp、Cpk，以下理解错误的是（）A当Cp与Cpk较小（如小于0.5）时，则客户所要求的公差可能较宽松，合格品率高B在某些特殊情况下，Cpk可能会大于CpC对于供应商而言，通过分析供应商的Cp与Cpk可以了解各个供应商的质量水平，并要求Cp、Cpk大的供应商进行整改DCNC车床加工产品尺寸显示Cpk值小，但Cp值大，代表尺寸中心偏倚，可以进行加工设备参数的调校过程
单选题下列关于SPC的目的和作用说法正确的是（）。ASPC的目的和作用是统计OOC/OOS，CP和CPK等指数BSPC的目的和作用是通过监控OOC/OOS，计算CP和CPK等指数，帮助工艺和生产人员采取适当之措施，实现过程的持续改进CSPC的目的和作用是实现OOC/OOS报警，计算CP和CPK，让生产人员忙个不停