X 射线衍射分析的粉末试样必须满足两个条件:( )和( )。
X-射线衍射可用来测试的样品有（）A、粉末；B、薄片；C、薄膜；D、都可以
比较仪器结构比较多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪的异同。
多晶X射线衍射仪法分为（）和（）两种方法。X光的衍射图的横坐标表示（）为（），纵坐标表示（）。
多晶X衍射仪法是物相鉴定的最好的方法，除了对（）组成的玉石可以（）样品外，对宝石的鉴定则需要（）样品，碾成（）样品。
问答题试比较单晶和多晶的电子衍射谱，并说明多晶电子衍射谱中环形花样形成的原因。
问答题试述X射线衍射实验方法，粉末衍射仪的工作方式、工作原理。
填空题粉末法测衍射线强度时，影响X射线衍射强度的因子有（）、角因子、（）、温度因子、（）。
问答题简要说明多晶（纳米晶体）、单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理。
问答题比较X射线粉末多晶衍射仪法测定物质晶体结构与单晶衍射法测定物质晶体结构。
问答题说明多晶、单晶及厚单晶衍射花样的特征及形成原理。
问答题有一种未知多晶材料，请用所学的材料近现代分析测试技术（X射线衍射技术，扫描电镜和透射电镜分析技术），提出材料组成，组织结构分析的可行方案；并简述采用X射线衍射技术对样品进行定性相分析的原理及步骤。
单选题多晶样品的电子衍射花样是（）A点花样、线花样B环花样、线花样C菊花线、线花样D线花样、环花样
单选题衍射仪法中的试样形状是（）。A丝状粉末多晶；B块状粉末多晶；C块状单晶；D任意形状。
单选题X射线衍射方法中最常用的方法是（）A劳厄法B粉末多晶法C周转晶体法
问答题如果一个样品的X射线衍射图谱中某个晶面衍射峰的2θ角比卡片值偏低，而衍射峰强度比卡片值明显偏高，说明该样品就有什么样的结构特征？
问答题比较仪器结构比较多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪的异同。
问答题粉末样品颗粒过大或过小对德拜花样影响如何？为什么？板状多晶体样品晶粒过大或过小对衍射峰形影响又如何？
问答题用单色X射线照射圆柱多晶体试样，其衍射线在空间将形成什么图案？为摄取德拜图相，应当采用什么样的底片去记录？
问答题试从入射光束、样品形状、成相原理、衍射线记录、衍射花样、样品吸收与衍射强度（公式）、衍射装备及应用等方面比较衍射仪法与德拜的异同点。
问答题简述从X射线衍射图谱中可以知道被检测样品那些结构信息？