问答题如果一个样品的X射线衍射图谱中某个晶面衍射峰的2θ角比卡片值偏低，而衍射峰强度比卡片值明显偏高，说明该样品就有什么样的结构特征？

问答题
如果一个样品的X射线衍射图谱中某个晶面衍射峰的2θ角比卡片值偏低，而衍射峰强度比卡片值明显偏高，说明该样品就有什么样的结构特征？

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X射线衍射的布拉格方程中，d（hkl）为（ ）。A．某一点阵面的晶面间距B．X射线的波长C．衍射角D．衍射强度E．晶格中相邻的两质点之间的距离
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在样品台转动的工作模式下，X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。()
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物相鉴定的依据是衍射线方向和衍射强度,在衍射图谱上即为衍射峰的位置和峰高。() 此题为判断题(对，错)。
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()是鉴定物相的主要依据。 A.X射线B.衍射线相对强度C.衍射峰高D.晶面间距表征衍射线位置
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X射线衍射的布拉格方程中，dhk1为（ ）。A．某一点阵面的晶面间距B．X射线的波长C．衍射角D．衍射强度E．晶格中相邻的两质点之间的距离
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波长为λ的X射线，投射到晶体常数为d的晶体上，取k=0，2，3，…，出现X射线衍射加强的衍射角θ(衍射的X射线与晶面的夹角)满足的公式为：A. 2dsinθ = kλB. dsinθ= kλC. 2dcosθ= kλD. dcosθ = kλ
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波长为λ的X射线，投射到晶格常数为d的晶体上，取k=1,2,3...,出现X射线衍射加强的衍射角θ（衍射的射线与晶面的夹角）满足的公式为：（A）2dsinθ=kλ (B)dsinθ=kλ（C）2dcosθ=kλ (D)2dcosθ=kλ
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X射线衍射的布拉格方程中，d(hkl)为A .某一点阵面的晶面间距 B . X射线的波长 C .衍射角 D .衍射强度 E .晶格中相邻的两质点之间的距离
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X-射线衍射可用来测试的样品有（）A、粉末；B、薄片；C、薄膜；D、都可以
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当X射线波长（）2倍晶面间距时产生衍射现象。
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用CuKa1.542Å为光源，多晶衍射法测定其晶体物质的的衍射峰的2 角分别为31.69°，45.59°，56.45°，计算对应于该晶体的面间距。
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波长为λ的X射线，投射到晶格常数为d的晶体上，取k=1，2，3，…，出现X射线衍射加强的衍射角θ（衍射的X射线与晶面的夹角）满足的公式为（）。A、2dsinθ=kλB、dsinθ=kλC、2dcosθ=kλD、dcosθ=kλ
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填空题德拜法衍射花样的测量主要是测量衍射线条的（）和（），然后在计算出θ角和晶面间距。
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