超声波的频率取决于晶片的振动频率,()。 A、频率越高晶片越厚B、频率越高晶片越薄C、频率越低晶片越薄D、频率越低晶片越小
超声波的频率取决于晶片的振动频率,频率越高晶片越厚。() 此题为判断题(对，错)。
换能器频率与晶片厚度有关，晶片越（），频率越（），材料对声能的衰减越（）
晶片厚度和探头频率是相关的，晶片越厚，则（）A、频率越低B、频率越高C、无明显影响D、频率先高后低
晶片厚度与晶片的频率密切相关，晶片厚度越厚，频率越低。
压电陶瓷晶片越厚，则换能器发射的声波频率（）。A、越低B、越高C、基本不变D、没有影响
晶片厚度和探头频率是相关的，晶片越厚则（）A、频率越低B、频率越高C、无明显影响D、频率变化不定
晶片厚度和探头频率是相关的，晶片越厚，则（）A、频率越低B、频率越高C、无明显影响
探头频率与晶片厚度有关，晶片越薄（）。A、 频率越低B、 频率越高C、 频率无显著变化D、 以上都不对
超声波探头所选用压电晶片的频率与晶片厚度有密切关系，频率越高，晶片越薄。
一般说来，要求声音的质量越高，则采用的（）A、量化级数越低和采样频率越低B、量化级数越高和采样频率越高C、量化级数越低和采样频率越高D、量化级数越高和采样频率越低
在超声波探伤中，探头芯片厚度与探头频率有关，芯片越厚，频率（）。A、越高B、越低C、变化不大
一般说来，声音的质量要求越高，则（）A、量化位数越低和采样频率越低B、量化位数越高和采样频率越高C、量化位数越低和采样频率越高D、量化位数越高和采样频率越低
单选题在超声波探伤中，探头芯片厚度与探头频率有关，芯片越厚，频率（）。A越高B越低C变化不大
填空题换能器频率与晶片厚度有关，晶片越（），频率越（），材料对声能的衰减越（）
单选题一般来说，要求声音的质量越高，则（）A量化级数越低采样频率越高B量化级数越低采样频率越低C量化级数越高采样频率越低D量化级数越高采样频率越高
单选题一般说来，要求声音的质量越高，则采用的（）A量化级数越低和采样频率越低B量化级数越高和采样频率越高C量化级数越低和采样频率越高D量化级数越高和采样频率越低
单选题一般说来，要求声音的质量越高，则（）。A分辨率越低和采样频率越低B分辨率越高和采样频率越低C分辨率越低和采样频率越高D分辨率越高和采样频率越高
单选题晶片厚度和探头频率是相关的，晶片越厚则（）A频率越低B频率越高C无明显影响D频率变化不定
单选题一般说来，要求声音的质量越高，则（）。A量化级数越低和采样频率越低 B量化级数越高和采样频率越高C量化级数越低和采样频率越高D量化级数越高和采样频率越低
填空题晶片厚度和探头频率是相关的，晶片越厚则频率（）
单选题探头频率与晶片厚度有关，晶片越薄（）。A频率越低B频率越高C频率无显著变化D以上都不对
单选题晶片厚度和探头频率是相关的，晶片越厚，则（）A频率越低B频率越高C无明显影响
单选题压电陶瓷晶片越厚，则换能器发射的声波频率（）。A越低B越高C基本不变D没有影响