晶片厚度和探头频率是相关的，晶片越厚则（）A、频率越低B、频率越高C、无明显影响D、频率变化不定
晶片厚度和探头频率是相关的，晶片越厚，则（）A、频率越低B、频率越高C、无明显影响
探头频率与晶片厚度有关，晶片越薄（）。A、 频率越低B、 频率越高C、 频率无显著变化D、 以上都不对
超声波探头所选用压电晶片的频率与晶片厚度有密切关系，频率越高，晶片越薄。
斜探头楔块底面磨损时，探头的（）参数会变化。A、频率和芯片厚度B、入射角和入射点C、芯片厚度和发射脉冲D、试样中的波长芯片直径
如果超声波的频率增加，则一定直径芯片探头的指向角将增大。
在超声波探伤中，探头芯片厚度与探头频率有关，芯片越厚，频率（）。A、越高B、越低C、变化不大
芯片直径相同的超声波探头，频率高的其声束扩散角（）．
芯片厚度和探头频率是有关的，当芯片越厚时，其频率（）。
同直径探头中，压电芯片的厚度越薄扩散角越（），频率越（）扩散角越大。
探头的近场长度主要取决于（）。A、芯片厚度B、探头外形尺寸C、芯片直径和频率D、探头的种类
换能器频率与芯片厚度有关，芯片愈薄，频率（）。A、愈低B、愈高C、不变
填空题同直径探头中，压电芯片的厚度越薄扩散角越（），频率越（）扩散角越大。
填空题同直径探头压电芯片的厚度越厚，其近场区（）。
单选题探头的近场长度主要取决于（）。A芯片厚度B探头外形尺寸C芯片直径和频率D探头的种类
单选题换能器频率与芯片厚度有关，芯片愈薄，频率（）。A愈低B愈高C不变
单选题在超声波探伤中，探头芯片厚度与探头频率有关，芯片越厚，频率（）。A越高B越低C变化不大
单选题斜探头楔块底面磨损时，探头的（）参数会变化。A频率和芯片厚度B入射角和入射点C芯片厚度和发射脉冲D试样中的波长芯片直径
填空题芯片厚度和探头频率是有关的，当芯片越厚时，其频率（）。
填空题晶片厚度和探头频率是相关的，晶片越厚则频率（）
单选题探头频率与晶片厚度有关，晶片越薄（）。A频率越低B频率越高C频率无显著变化D以上都不对
单选题晶片厚度和探头频率是相关的，晶片越厚，则（）A频率越低B频率越高C无明显影响