判断题JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。A对B错
判断题
JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。
A
对
B
错
参考解析
解析：
暂无解析
相关考题：
下面关于JTAG的叙述中，错误的是（）。A.JTAG技术是一种嵌入式测试技术B.大多数ARM嵌入式处理器芯片不包含JTAG接口C.多个器件可以通过JTAG接口串联在一起进行测试D.通过芯片的JTAG接口可以实现在线编程功能
下面关于JTAG的叙述中，错误的是（）。A.JTAG技术为ARM公司专用，非ARM处理器不采用JTAG技术B.通过JTAG测试接口可对嵌入式处理器芯片进行测试、对系统进行仿真、调试C.多个器件可以通过JTAG接口串联在一起进行测试D.通过芯片的JTAG接口可以实现在线编程功能
以下叙述中错误的是(40) 。A.实时系统就是响应快的系统B.JTAG主要用于芯片内部测试及系统调试C.嵌入式系统在开发过程中，下载bootloader可以采用Jtag接口D.触摸屏是一种输入输出设备
JTAG是用来进行嵌入式处理器调试的标准化接口，下列描述中，正确的是______。A.JTAG接口上一般包括模式选择、时钟、数据输入、数据输出、复位等信号B.当JTAG接口上面的时钟不正常时，也可以访问CPU内部的寄存器C.JTAG只能用于调试，而不能用于进行芯片问题的检测D.JTAG能够访问CPU内部的寄存器，而不能访问CPU总线上面的设备
JLINK V8支持JTAG和SWD，同时STM32也支持JTAG和SWD。所以，我们有2种方式可以用来调试，JTAG调试的时候，占用的IO 线比较多，而SWD调试的时候占用的IO 线很少，只需要（）根线即可。A、1B、2C、3D、4
下面有关片上调试技术的描述语句中，不恰当的是（）A、边界扫描技术是调试硬件芯片及目标机电路板的一种常用调试技术。B、JTAG组织所研究的测试访问端口和边界扫描结构标准，成为了片上测试技术的一种国际标准，即俗称的JTAG标准。C、使用片上调试技术进行嵌入式系统目标机调试时，无需目标存储器，也不占用目标机任何I/O端口。D、经常用于嵌入式系统设计中的微处理器（如：MCS-51、DSP、ARM）都支持JTAG标准的片上调试技术
JTAG的引脚TCK的主要功能是（）A、 测试时钟输入；B、 测试数据输入，数据通过TDI输入JTAG口；C、 测试数据输出，数据通过TDO从JTAG口输出；D、 测试模式选择，TMS用来设置JTAG口处于某种特定的测试模式。
下面关于JTAG的叙述中，错误的是（）。A、JTAG技术是一种嵌入式测试技术B、大多数ARM嵌入式处理器芯片不包含JTAG接口C、多个器件可以通过JTAG接口串联在一起进行测试D、通过芯片的JTAG接口可以实现在线编程功能
单选题下面关于JTAG的叙述中，错误的是（）。AJTAG技术是一种嵌入式测试技术B大多数ARM嵌入式处理器芯片不包含JTAG接口C多个器件可以通过JTAG接口串联在一起进行测试D通过芯片的JTAG接口可以实现在线编程功能
单选题JTAG的引脚TCK的主要功能是（）A 测试时钟输入；B 测试数据输入，数据通过TDI输入JTAG口；C 测试数据输出，数据通过TDO从JTAG口输出；D 测试模式选择，TMS用来设置JTAG口处于某种特定的测试模式。
判断题很多JTAG探测器不采用直接通过JTAG用户界面进行交互，而是和源代码探测器接口交互。（）A对B错