单选题材料的声阻抗用来()。A确定界面上的折射角B确定材料的声衰减C确定接口上透过和反射声能的相对数量D确定材料中声来扩散角

单选题
材料的声阻抗用来()。
A

确定界面上的折射角

B

确定材料的声衰减

C

确定接口上透过和反射声能的相对数量

D

确定材料中声来扩散角


参考解析

解析: 暂无解析

相关考题:

材料的声阻抗主要与频率有关。 ( )此题为判断题(对,错)。

用超声波检验复层材料时,容易探出脱粘的条件是两种材料的( )。A.声阻抗相差大B.声阻抗相差小C.衰减小D.声速相差小

材料中的声速与密度的乘积称为()A、材料的折射角B、材料的声阻抗C、材料的弹性常数D、材料的泊松比

材料的声速与密度的乘积称为()A、材料的折射率B、材料的声阻抗C、材料的弹性常数D、材料的泊松比

当声测管(),声能量的总透过系数较大。A、材料声阻抗介于水和混凝土之间时B、材料声阻抗大于混凝土时C、采用钢管或钢质波纹管时D、度大于混凝土时

材料的声阻抗越大,超声波传播时衰减越大。

用超声波检验复层材料时,容易探出粘的条件是两种材料的()A、声阻抗相差大B、声阻抗相差小C、衰减小D、声速相差小

耦合剂的声阻抗尽量与被检材料的声阻抗相近。

声阻抗是衡量介质声学特性的重要参数,温度变化对材料的声阻抗也会有影响。

在同一固体材料中,()时声阻抗不一样。

影响直接接触法耦合损耗的原因有()A、耦合层厚度,超声波在耦合介质中的波长及耦合介质声阻抗B、探头接触面介质声阻抗C、工件被探测面材料声阻抗D、以上都对

材料的声速与密度的乘积为材料的()A、折射率B、声阻抗C、弹性系数D、泊松比

探头的频率取决于()。A、晶片的厚度B、晶片材料的声速C、晶片材料的声阻抗D、晶片材料的密度

用超声波检验复层材料时,容易探出脱粘的条件是两种材料的()。A、声阻抗相差大B、声阻抗相差小C、衰减小D、声速相差小

声速主要取决于材料的声阻抗。

在相同声压下,材料的声阻抗越大,质点()就越小,因此声阻抗表示超声场中介质对()的阻碍作用。

材料的声阻抗用来()。A、确定界面上的折射角B、确定材料的声衰减C、确定接口上透过和反射声能的相对数量D、确定材料中声来扩散角

材料的声阻抗等于()。

单选题材料中的声速与密度的乘积称为()A材料的折射角B材料的声阻抗C材料的弹性常数D材料的泊松比

填空题在相同声压下,材料的声阻抗越大,质点()就越小,因此声阻抗表示超声场中介质对()的阻碍作用。

单选题材料的声速与密度的乘积称为()A材料的折射率B材料的声阻抗C材料的弹性常数D材料的泊松比

单选题探头的频率取决于()。A晶片的厚度B晶片材料的声速C晶片材料的声阻抗D晶片材料的密度

单选题当声测管(),声能量的总透过系数较大。A材料声阻抗介于水和混凝土之间时B材料声阻抗大于混凝土时C采用钢管或钢质波纹管时D度大于混凝土时

单选题用超声波检验复层材料时,容易探出粘的条件是两种材料的()A声阻抗相差大B声阻抗相差小C衰减小D声速相差小

判断题材料的声阻抗主要与频率有关。A对B错

判断题耦合剂的声阻抗尽量与被检材料的声阻抗相近。A对B错

填空题材料的声阻抗等于()。