单选题斜探头楔块底面磨损时，探头的（）参数会变化。A频率和芯片厚度B入射角和入射点C芯片厚度和发射脉冲D试样中的波长芯片直径

单选题
斜探头楔块底面磨损时，探头的（）参数会变化。
A

频率和芯片厚度

B

入射角和入射点

C

芯片厚度和发射脉冲

D

试样中的波长芯片直径

参考解析

解析： 暂无解析

相关考题：

使探头不与钢轨直接接触，保护探头不磨损延长探头使用寿命的部件（ ）。A.阻尼块B.延迟块C.斜楔块D.保护膜
查看答案
对铁塔焊缝超声波探伤时，当探头锲块底面前部磨损较大时，其K值将变小。
查看答案
横波探头在检测过程中，斜楔将会磨损。以下说法错误的是（）A、探头磨损会使入射点发生变化B、探头磨损可能导致探头K值的增大C、探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D、探头磨损可能导致探头K值的减小
查看答案
焊接接头超声波检测用斜探头，当楔块底面后部磨损较大时，其折射角将变大。
查看答案
焊缝检测所用的斜探头，当楔块底面前部磨损较大时，其K值将变小。
查看答案
斜探头前部磨损较多时，探头的K值会变大。（）
查看答案
焊缝探伤所用斜探头，当楔块底面前部磨损较大时，其K值将变大。
查看答案
斜探头超声检测时，若探头前部磨损量较大，则K值会减小。
查看答案
斜探头利用穿透楔块使声束倾斜于工件表面射入工件
查看答案
斜探头楔块底面磨损时，探头的（）参数会变化。A、频率和芯片厚度B、入射角和入射点C、芯片厚度和发射脉冲D、试样中的波长芯片直径
查看答案
普通斜探头楔块在常温下的声速随温度升高而（），因而斜探头的折射角随温度增高而（）。
查看答案
超声波斜探头，除和直探头相同的几个部分外，在晶片前方还装有（）A、线圈B、楔块C、保护膜D、阻尼块
查看答案
斜探头楔块前部和上部的消声槽可以消除超声波。
查看答案
WGT-3试块110mm底面是用于测定钢轨探伤仪（）通道灵敏度余量.A、70°探头B、37°探头C、0°探头D、斜探头折射角
查看答案
修磨探头斜楔块底面，可以变探头K值。
查看答案
使探头不与钢轨直接接触，保护探头不磨损延长探头使用寿命的部件（）。A、阻尼块B、延迟块C、斜楔块D、保护膜
查看答案
GTC型钢轨探伤车斜探头与直探头的不同就是多了一个透声的（）。A、保护膜B、阻尼块C、斜楔块D、延迟块
查看答案
横波探头在检测过程中，斜楔将会磨损。下列说法错误的是（）。A、探头磨损会使入射点发生变化B、 探头磨损可能导致探头K值的增大或减小C、 探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D、 探头磨损可能导致扫描速度的变化
查看答案
判断题焊接接头超声波检测用斜探头，当楔块底面后部磨损较大时，其折射角将变大。A对B错
查看答案
单选题横波探头在检测过程中，斜楔将会磨损。以下说法错误的是（）A探头磨损会使入射点发生变化B探头磨损可能导致探头K值的增大C探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D探头磨损可能导致探头K值的减小
查看答案
判断题修磨探头斜楔块底面，可以变探头K值。A对B错
查看答案
单选题使探头不与钢轨直接接触，保护探头不磨损延长探头使用寿命的部件（）。A阻尼块B延迟块C斜楔块D保护膜
查看答案
填空题普通斜探头楔块在常温下的声速随温度升高而（），因而斜探头的折射角随温度增高而（）。
查看答案
单选题横波探头在检测过程中，斜楔将会磨损。下列说法错误的是（）。A探头磨损会使入射点发生变化B 探头磨损可能导致探头K值的增大或减小C 探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D 探头磨损可能导致扫描速度的变化
查看答案
判断题焊缝检测所用的斜探头，当楔块底面前部磨损较大时，其K值将变小。A对B错
查看答案
判断题焊缝探伤所用斜探头，当楔块底面前部磨损较大时，其K值将变小。A对B错
查看答案
判断题斜探头前部磨损较多时，探头的K值会变大。（）A对B错
查看答案
热门标签