问答题在晶圆上(On-wafer)或在芯片上(On-Chip)测试有什么优点?

问答题
在晶圆上(On-wafer)或在芯片上(On-Chip)测试有什么优点?

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沾污引起的电学缺陷引起(),硅片上的管芯报废以及很高的芯片制造成本。A、不会影响成品率B、晶圆缺陷C、成品率损失D、晶圆损失

同一晶带的晶面的极射赤平投影点可能出现的位置有()A、基圆上B、直径上C、大圆弧上D、小圆弧上

集成电路的主要制造流程是()A、硅抛光片——晶圆——芯片——集成电路——成品测试B、硅抛光片——芯片——晶圆——成品测试——集成电路C、晶圆——硅抛光片——芯片——成品测试——集成电路D、硅抛光片——芯片——晶圆——集成电路——成品测试

用于表述集成电路技术发展水平的主要指标是()。A、晶圆直径B、芯片面积C、芯片中晶体管的线宽D、芯片引脚数目

心脏有一结构叫卵圆窝,在什么解剖结构上()A、在左房的左心耳上B、在房间隔上C、在肺动脉上D、在主动脉上E、在室间隔上

问答题什么是晶圆?晶圆的材料是什么?

单选题集成电路的主要制造流程是()A硅抛光片——晶圆——芯片——集成电路——成品测试B硅抛光片——芯片——晶圆——成品测试——集成电路C晶圆——硅抛光片——芯片——成品测试——集成电路D硅抛光片——芯片——晶圆——集成电路——成品测试

判断题成品率是指在一片晶圆上所有芯片中好芯片所占的百分比。A对B错

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多选题同一晶带的晶面的极射赤平投影点可能出现的位置有()。A基圆上B直径上C大圆弧上D小圆弧上