白盒测试又称为()。 A、详细测试或全面测试B、分析测试或比较测试C、功能测试或系统测试D、结构测试或逻辑驱动测试
逻辑功能A、B相同时,输出F=1;A、B不同时,输出F=0的逻辑电路是(). A. 异或门B. 同或门C. 与门D. 与非门
软件测试中,自盒法是通过分析程序的( )来设计测试用例的。 A应用范围B内部逻辑C功能D输入数据
黑盒测试法又被称为()。A、等价类划分法B、边值分析法C、逻辑覆盖法D、功能测试法
适用于黑盒测试的测试用例设计方法是()。A、等价类划分法B、边值分析法C、逻辑覆盖法D、功能测试法E、回归测试法
以下电路中可以属于时序逻辑电路的是()。 ATTL与非门BJK触发器COC门D异或门
白盒测试法又称为(4)，黑盒测试法又称为(5)。A．结构测试或功能测试B．结构测试或逻辑测试C．性能测试或逻辑测试D．结构测试或性能测试
在软件测试中，白盒测试方法是通过分析程序的 ______ 来设计测试用例。A．应用范围B．功能C．内部逻辑D．输入数据
能实现分时传送数据逻辑功能的是（ ）。 A． TTL与非门 B． 三态逻辑门 C． 集电极开路门 D． CMOS逻辑门
一个负逻辑与非门如果变为正逻辑，它将具有什么功能？
目前功能较强的逻辑测试笔不仅可用于测试（）、（）和（），还可当作（）使用。
下列逻辑门中，（）不属于通用逻辑门。A、与非门B、或非门C、或门D、与或非门
测试的分析方法是通过分析程序（）来设计测试用例的方法。A、应用范围B、内部逻辑C、功能D、输入数据
以下电路中可以属于时序逻辑电路的是（）。A、TTL与非门B、JK触发器C、OC门D、异或门
能实现“有0出1，全1出0”逻辑功能的是（）。A、与门B、或门C、与非门D、或非门
白盒测试又叫做功能测试或数据驱动测试，黑盒测试又称为结构测试或逻辑驱动测试。
在逻辑门电路中，符合“输入端全1出0，有0出1”的是（）。A、与非门B、或非门C、异或门D、逻辑表达式为BAY
与非门的逻辑功能可概括为有（）出（），全（）出（）
具有“有1出0、全0出1”功能的逻辑门是（）A、与非门B、或非门C、异或门D、同或门
软件测试中白盒法是通过分析程序的（）来设计测试用例的。A、输出结果B、内部逻辑C、软件功能D、输入数据
单选题具有“有1出0、全0出1”功能的逻辑门是（）A与非门B或非门C异或门D同或门
问答题一个负逻辑与非门如果变为正逻辑，它将具有什么功能？
单选题白盒测试也称（）或逻辑驱动测试，允许测试人员对程序内部逻辑结构及有关信息来设计和选择测试用例，对程序的逻辑路径进行测试，而不必顾及它的功能。A结构测试B组装测试C单元测试D功能测试
单选题以下电路中可以属于时序逻辑电路的是（）。ATTL与非门BJK触发器COC门D异或门
单选题测试的分析方法是通过分析程序（）来设计测试用例的方法。A应用范围B内部逻辑C功能D输入数据