35、用对照实验法可以校正由于仪器不精密所造成的误差。

35、用对照实验法可以校正由于仪器不精密所造成的误差。


参考答案和解析
错误

相关考题:

可以减少偶然误差的方法是() A、进行仪器校正B、作对照试验C、作空白试验D、增加平行测定次数

用对照分析法可以校正由仪器不够准确所引起的误差。此题为判断题(对,错)。

系统误差可以用对照试验、空白试验、()等方法加以校正。A.多次平行测定B.二次平行试验C.校正仪器D.滴定试验

仪器误差可以用对照试验的方法来校正。此题为判断题(对,错)。

下列有关于系统误差产生原因说法不正确的是( )A.系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B.系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C.仪器本身精密不够或未经校正不会引起系统误差D.重量分析中,由于沉淀的溶解或因吸附某些杂质亦可产生系统误差

系统误差可以用( )、空白试验、校正仪器等方法加以校正。A.对照试验B.滴定试验C.多次平行测定D.二次平行测定

由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差,应通过()来消除。A.对照分析B.空白试验C.增加平行试验D.校正仪器

可用于减免偶然误差的方法为A:提高仪器精度B:多次测量,求平均值C:空白试验D:与对照品平行操作E:将结果用校正公式校正

试剂和器皿带进杂质所造成的误差可用()消除。A对照试验B空白试验C校正试验

仪器误差可以用对照试验的方法来校正

用对照分析法可以校正由仪器不够准确所引起的误差

下列有关于系统误差产生原因说法不正确的是()A、系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B、系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C、仪器本身精密不够或未经校正不会引起系统误差D、重量分析中,由于沉淀的溶解或因吸附某些杂质亦可产生系统误差

由于分析方法本身不够完善所造成的误差称为()。A、方法误差B、仪器误差C、试剂误差D、操作误差

下列关于系统误差产生原因说法不正确的是()。A、系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B、系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C、系统误差可以由仪器本身不够精密或未经校正等原因而引起D、在滴定分析中,滴定终点和理论终点不符合不会产生系统误差

系统误差可以用()、空白试验、校正仪器等方法加以校正。A、对照试验B、滴定试验C、多次平行测定D、二次平行测定

系统误差可以用对照试验、空白试验、()等方法加以校正。A、多次平行测定B、二次平行试验C、校正仪器D、滴定试验

下列造成误差的原因中,属于系统误差的是()。A、蒸馏水不纯造成的误差B、仪器精密度不够造成的误差C、温度偏低造成的误差D、由于分析人员的主观因素所造成的操作误差

用对照分析可以校正由于仪器不精密所造成的误差。

用对照分析法可以校正由于仪器不精密所造成的误差。()

用对照分析法可以校正由()不够准确所引起的误差。

在分析工作中,由于所使用的温度计未经校正而引起的误差,属于()误差。A、操作B、仪器C、方法D、试剂

对照试验可以校正由仪器不精密所造成的误差。

由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差,应通过()来消除。A、对照分析B、空白试验C、增加平行试验D、校正仪器

在分析测定中,一般要进行()可消除偶然误差,提高精密度。A、空白实验B、校正仪器C、多次实验D、对照实验

基准物质不纯所引起的试剂误差一般用对照试验进行校正。

单选题由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差,应通过()来消除。A对照分析B空白试验C增加平行试验D校正仪器

判断题用对照分析法可以校正由仪器不够准确所引起的误差A对B错

判断题仪器误差可以用对照试验的方法来校正A对B错