半圆试块的主要用途( )。A、测定斜探头人射点B、调整探测范围和扫描速度C、调节探伤灵敏度D、以上都对
IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。（）此题为判断题(对，错)。
使探头不与钢轨直接接触，保护探头不磨损延长探头使用寿命的部件（ ）。A.阻尼块B.延迟块C.斜楔块D.保护膜
探头C正在进行()A.距离测定B.分辨力测定C.灵敏度校验D.折射角测定
探头D正在进行()A.验证楔块角度B.直探头分辨力测定C.灵敏度测定D.距离校验
探头B正在进行()A.灵敏度调节B.距离测定C.声速测定D.横波分辨力测定
CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A、 直探头的的远场分辨力B、 斜探头的K值C、 斜探头的入射点D、 斜探头的声束偏斜角
CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。
与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。
CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨力D、以上全是
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨率D、以上全部
WGT—1试块，R40mm的圆弧面，可用于测定斜探头的入射点和（）。
半圆试块的主要用途（）。A、测定斜探头入射点B、调整探测范围和扫描速度C、调节探伤灵敏度D、以上都对
WGT-3试块110mm底面是用于测定钢轨探伤仪（）通道灵敏度余量.A、70°探头B、37°探头C、0°探头D、斜探头折射角
WGT—3试块主要用于检测（）。A、钢轨探伤仪灵敏度余量和距离幅度特性B、探头灵敏度余量和斜探头楔内回波幅度C、探头灵敏度余量和直探头楔内回波幅度D、A与B
IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。
阶梯试块的主要作用是测定钢轨探伤仪（）。A、0°探头通道灵敏度余量和距离幅度特性B、0°探头的灵敏度余量和楔内回波幅度C、探头的声束宽度D、0°探头通道距离幅度特性和楔内回波幅度
填空题WGT—1试块，R40mm的圆弧面，可用于测定斜探头的入射点和（）。
单选题WGT—3试块主要用于检测（）。A钢轨探伤仪灵敏度余量和距离幅度特性B探头灵敏度余量和斜探头楔内回波幅度C探头灵敏度余量和直探头楔内回波幅度DA与B
判断题与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。A对B错
单选题图中探头A在进行（）A验证试块的圆度B灵敏度调节C分辨力测定D探头入射点测定
单选题WGT-3试块110mm底面是用于测定钢轨探伤仪（）通道灵敏度余量.A70°探头B37°探头C0°探头D斜探头折射角
单选题半圆试块的主要用途（）。A测定斜探头入射点B调整探测范围和扫描速度C调节探伤灵敏度D以上都对
判断题IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。A对B错
单选题CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A测定斜探头K值B测定直探头盲区范围C测定斜探头分辨力D以上全是
单选题CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A 直探头的的远场分辨力B 斜探头的K值C 斜探头的入射点D 斜探头的声束偏斜角
单选题阶梯试块的主要作用是测定钢轨探伤仪（）。A0°探头通道灵敏度余量和距离幅度特性B0°探头的灵敏度余量和楔内回波幅度C探头的声束宽度D0°探头通道距离幅度特性和楔内回波幅度