如以r表示电离室的半径，则高能电子束的有效测量点位于（）A、0.1rB、0.3rC、0.5rD、0.75rE、几何中心
如以r表示电离室的半径，则高能电子束的有效测量点位于（）
- A、0.1r
- B、0.3r
- C、0.5r
- D、0.75r
- E、几何中心
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对小光子线射野的PDD测量，错误的是（）A、需要准确确定电离室的有效测量点位置B、使用0.1cm3的电离室，其中心电极平行于光子射野中心轴C、使用半导体探头D、使用小收集电极的平行板电离室E、延长源皮距
用电离室测量高能X线剂量是，有效测量点位于（）A、电离室中心前方的0.5r处B、电离室中心前方的0.55r处C、电离室中心前方的0.6r处D、电离室中心前方的0.65r处E、电离室中心前方的0.7r处
按照IAEA测量规程1997年修订版的建议，关于用电离室在水模体中测量加速器8MVX射线吸收剂量时的参考条件，不正确的是（）A、源皮距采用常规治疗距离B、照射野为10cm×l0cmC、参考深度为水下10cmD、有效测量点位于电离室前方距离电离室几何中心0.6倍电离室半径处E、每次测量时，机器跳数预设为100MU
从一个质量均匀分布的半径为R的圆盘中挖出一个半径为R/2的小圆盘，两圆盘中心的距离恰好也为R/2。如以两圆盘中心的连线为x轴，以大圆盘中心为坐标原点，则该圆盘质心位置的x坐标应为（）A、R/4B、R/6C、R/8D、R/12
填空题刀具半径补偿时，当刀具中心轨迹始终位于编程轨迹的左边时，称为左半径刀具补偿，用（）表示。当刀具中心轨迹始终位于编程轨迹的右边时，称为右半径刀具补偿，用（）表示。撤消刀具半径补偿时用（）表示。
单选题对小光子线射野的PDD测量，错误的是（）A需要准确确定电离室的有效测量点位置B使用0.1cm3的电离室，其中心电极平行于光子射野中心轴C使用半导体探头D使用小收集电极的平行板电离室E延长源皮距
单选题按照IAEA测量规程1997年修订版的建议，对高能电子线，有效测量点应位于电离室中心前方（）A0.5rB0.55rC0.6rD0.7rE0.75r