用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响),它们的当量()。A、面积大的,当量也一定大B、面积大的,当量不一定比面积小的大C、面积大的,当量反而比面积小的小D、它们的当量相等
用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响),它们的当量()。
A、面积大的,当量也一定大
B、面积大的,当量不一定比面积小的大
C、面积大的,当量反而比面积小的小
D、它们的当量相等
相关考题:
方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是()A.平行且靠近探测面B.与声束方向平行C.与探测面成较大角度D.平行且靠近底面