盘形瓷绝缘子零值监测时，当绝缘电阻小于（）MΩ时，加屏蔽环重新测量，仍然小于（）MΩ时，判定为零值绝缘子。A、100，100B、200，200C、500，500D、1000，1000
盘形瓷绝缘子零值监测时，当绝缘电阻小于（）MΩ时，加屏蔽环重新测量，仍然小于（）MΩ时，判定为零值绝缘子。
- A、100，100
- B、200，200
- C、500，500
- D、1000，1000
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发生电压致热型缺陷的热像特征是以瓷盘（或玻璃盘）为发热区的热像的瓷绝缘子，故障特征是（ ）。低值绝缘子发热（绝缘电阻在10~300MΩ）$;$零值绝缘子发热（0~10MΩ）$;$由于表面污秽引起绝缘子泄漏电流增大$;$伞裙破损或芯棒受潮
红外检测220kV线路用盘形悬式瓷绝缘子时发现，从高压端数起第3片绝缘子的温度比相邻绝缘子温度要低，则以下说法不正确的是（）。A、该绝缘子表面污秽程度严重B、该绝缘子的绝缘电阻可能为10MΩ左右C、该绝缘子可能为低值绝缘子D、该绝缘子可能为零值绝缘子
以下关于绝缘子零值测试，说法正确的是（）。A、检测出的低（零）值绝缘子必须经过两人分别试验确认后，方可按缺陷处理流程上报处理B、试验前应该用干燥清洁的柔软布擦去绝缘子表面污垢，必要时先用无腐蚀性化学清洗剂洗净绝缘子表面积垢，以消除表面漏电电流影响测试结果C、绝缘子绝缘电阻低于500MΩ，可以判为劣化（零值）绝缘子D、绝缘子零值检测试时间为1min
关于设备外绝缘及绝缘子盘形瓷绝缘子零值检测，说法正确的是（）。A、条件不具备时，进行红外热像精确测温，着重温度分布的测量B、采用轮试的方法，即每年检测一部分，一个周期内完成全部普测C、如某批次的盘形瓷绝缘子零值检出率明显高于运行经验值，则对于该批次绝缘子应酌情缩短零值检测周期D、自上次检测以来又发生了新的闪络、或有新的闪络痕迹的，也应列入最近的检测计划
盘形瓷绝缘子零值检测时，应用绝缘电阻检测零值时，宜用（）兆欧表，绝缘电阻应不低于（），达不到（）时，在绝缘子表面加屏蔽环并接兆欧表屏蔽端子后重新测量，若仍小于（）时，可判定为零值绝缘子A、5000V，500MΩ，500MΩ，500MΩB、5000V，1000MΩ，1000MΩ，1000MΩC、2500V，500MΩ，500MΩ，500MΩD、2500V，1000MΩ，1000MΩ，1000MΩ
防止输变电设备污闪，应加强零值、低值瓷绝缘子的检测，及时更换及（）。A、自爆玻璃绝缘子；B、老旧绝缘子；C、损坏绝缘子；D、零值瓷绝缘子；E、低值瓷绝缘子。