110（66）~750kV盘形瓷绝缘子零值检测检测周期为（）A、1年B、2年C、3年D、4年

110（66）~750kV盘形瓷绝缘子零值检测检测周期为（）

  • A、1年
  • B、2年
  • C、3年
  • D、4年

相关考题：

35kV以上输电线路瓷质盘型绝缘子带电检测周期为()年。 A.1B.2C.4D.2～4
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139、加强（ ）的检测，及时更换自爆玻璃绝缘子及零值、低值瓷绝缘子。A、零值、低值瓷绝缘子B、玻璃绝缘子C、复合绝缘子D、钢化玻璃绝缘子
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红外检测220kV线路用盘形悬式瓷绝缘子时发现，从高压端数起第3片绝缘子的温度比相邻绝缘子温度要低，则以下说法不正确的是（）。A、该绝缘子表面污秽程度严重B、该绝缘子的绝缘电阻可能为10MΩ左右C、该绝缘子可能为低值绝缘子D、该绝缘子可能为零值绝缘子
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盘形瓷绝缘子零值检测周期为（）雷电日/年，500kV线路的基准周期为（）年，采用轮试。A、10，2B、20，3C、30，4D、40，5
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110kV线路带电检测绝缘子，当发现同一绝缘子串的零值绝缘子片数达到（）时，应立即停止检测。A、1；B、2；C、3；D、4。
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检测（）kV及以上电压等级的绝缘子串时，当发现同一串中的零值绝缘子片数达到表6-12的规定时，应立即停止检测。A、35；B、110；C、220；D、66
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使用火花间隙检测一串7片绝缘子的110kV设备时，零值绝缘子达到（）片时，应立即停止检测。A、1；B、3；C、4；D、5。
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110kV线路瓷质绝缘子零值检测结果劣化绝缘子片数在规定的检测次数中达到（）时必须立即整串更换。A、1片B、2～3片C、3片D、6～8片
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瓷质绝缘子零值检测：110kV以上线路投运（）年内普测1次。A、1B、2C、3D、5
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检修人员应加强（）的检测，及时更换自爆玻璃绝缘子及零值、低值瓷绝缘子。
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检测750kV电压等级的绝缘子串时，当发现同一串中的零值绝缘子片数达到几片时，应立即停止检测。
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对于盘形悬式瓷质绝缘子，每年宜进行（）的检测，发现（）绝缘子应及时更换
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加强零值、低值瓷绝缘子的检测，及时更换（）及零值、低值瓷绝缘子。A、自爆玻璃绝缘子B、玻璃绝缘子C、复合绝缘子D、钢化玻璃绝缘子
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加强零值、低值瓷绝缘子的检测，及时更换自爆玻璃绝缘子及零值、低值瓷绝缘子。（）
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防止输变电设备污闪，应加强零值、低值瓷绝缘子的检测，及时更换（）。A、自爆玻璃绝缘子；B、老旧绝缘子；C、损坏绝缘子；D、零值瓷绝缘子；E、低值瓷绝缘子。
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35kV及以下设备外绝缘及绝缘子盘形瓷绝缘子零值检测基准周期：（）年。A、1B、2C、3D、4
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某110kV线路耐张绝缘子为8片瓷绝缘子，在用火花间隙法进行带电检测绝缘子时，当发现（）片零值绝缘子时，应立即停止检测.A、1片B、2片C、3片
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检测110kV电压等级的绝缘子串时，当发现同一串中的零值绝缘子片数达到几片时，应立即停止检测。
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关于设备外绝缘及绝缘子盘形瓷绝缘子零值检测，说法正确的是（）。A、条件不具备时，进行红外热像精确测温，着重温度分布的测量B、采用轮试的方法，即每年检测一部分，一个周期内完成全部普测C、如某批次的盘形瓷绝缘子零值检出率明显高于运行经验值，则对于该批次绝缘子应酌情缩短零值检测周期D、自上次检测以来又发生了新的闪络、或有新的闪络痕迹的，也应列入最近的检测计划
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35kV及以下设备外绝缘及绝缘子盘形瓷绝缘子零值检测基准周期是（）。A、1年B、2年C、3年D、4年
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110（66）～750kV SF6气体变压器绕组绝缘电阻停电检测基准周期为（）。A、1年B、2年C、3年D、4年
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防止输变电设备污闪，应加强零值、低值瓷绝缘子的检测，及时更换及（）。A、自爆玻璃绝缘子；B、老旧绝缘子；C、损坏绝缘子；D、零值瓷绝缘子；E、低值瓷绝缘子。
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用火花间隙法检测零值绝缘子时，发现110kV级一串7片绝缘子中零值绝缘子片数超过（）片时不允许再继续检测.A、1B、2C、3D、4
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盘形瓷绝缘子零值监测时，当绝缘电阻小于（）MΩ时，加屏蔽环重新测量，仍然小于（）MΩ时，判定为零值绝缘子。A、100，100B、200，200C、500，500D、1000，1000
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根据Q/GDW168—2008输变电设备状态检修试验规程要求，输电线路例行试验项目包括（）。A、盘形瓷绝缘子零值检测B、导线接点温度测量C、杆塔接地阻抗检测D、线路避雷器检查及试验E、现场污秽度评估
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单选题检测（）kV及以上电压等级的绝缘子串时，当发现同一串中的零值绝缘子片数达到表6-12的规定时，应立即停止检测。A35；B110；C220；D66
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单选题某110kV线路耐张绝缘子为8片瓷绝缘子，在用火花间隙法进行带电检测绝缘子时，当发现（）片零值绝缘子时，应立即停止检测.A1片B2片C3片
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