在重量分析中,待测物质中含的杂质与待测物的离子半径相近,在沉淀过程中往往形成()A、混晶B、吸留C、包藏D、后沉淀

在重量分析中,待测物质中含的杂质与待测物的离子半径相近,在沉淀过程中往往形成()

  • A、混晶
  • B、吸留
  • C、包藏
  • D、后沉淀

相关考题:

在沉淀形成过程中,待测离子的半径相近的杂质离子常与待测离子一道与构晶离子形成() A、吸留B、混晶C、包藏D、后沉淀

样品预处理的目的是A、去除样品中的杂质B、富集待测物C、排除样品中的干扰D、提高分析仪器的灵敏度E、消除样品中待测物与基体的反应

在光谱法中,下列说法中不正确的是A、吸光系数与待测物的性质无关B、吸光系数与待测物的性质有关C、吸光系数与溶剂的性质有关D、吸光系数与光的波长有关E、吸光系数与待测物的浓度无关

在分光光度法中,显色剂的加入量A、必须和待测物等浓度B、必须高于待测物的浓度C、必须低于待测物的浓度D、在反应中必须过量、适量和定量E、在反应中必须少量和定量

在光谱法中,下列说法中不正确的是A、摩尔吸光系数与待测物的性质无关B、摩尔吸光系数与待测物的性质有关C、摩尔吸光系数与溶剂的性质有关D、摩尔吸光系数与光的波长有关E、摩尔吸光系数与待测物的浓度无关

在研制标准检验方法时,必须进行现场调查,主要是了解( )。A、现场生产过程中待测物在空气中的存在状态B、现场生产过程中待测物的产生情况C、现场气象条件对待测物的影响D、现场待测物在空气中的扩散规律E、现场生产过程中工人接触待测物的情况

样品预处理不能( )。A、排除样品中的干扰B、去除样品中的杂质C、提高分析仪器的灵敏度D、富集待测物E、消除样品中待测物与其基体的反应

在研制标准检验方法时,必须进行现场调查,主要是了解A.现场生产过程中待测物的产生情况B.现场待测物在空气中的扩散规律C.现场气象条件对待测物的影响D.现场生产过程中待测物在空气中的存在状态E.现场生产过程中工人接触待测物的情况

关于样品预处理的目的,描述错误的是( )。A.去除样品中的杂质B.富集待测物C.有利于待测物的测定D.排除样品中的干扰E.提高分析仪器的灵敏度

在原子吸收光谱分析中,加入消电离剂可以抑制电离干扰。一般来说,消电离剂的电离电位:()A、比待测元素高B、比待测元素低C、与待测元素相近D、与待测元素相同

在研制标准检验方法时,必须进行现场调查,主要目的是什么()。A、了解待测物在空气中的存在状态B、了解待测物在空气中的扩散规律C、了解工人接触待测物的情况D、了解现场生产过程中待测物的产生情况E、了解现场气象条件对待测物的影响

样品预处理是为了()。A、去除样品中的杂质;B、富集待测物;C、提高分析仪器的灵敏度;D、排除样品中的干扰;E、消除样品中待测物与基体的反应。

试液中待测组分的()决定沉淀剂的用量。A、含量B、浓度C、重量D、组成

使用“内标法”进行气相色谱定量分析时,选择内标物应注意其结构.性质与待测物相近且含量准确已知,此外还应注意()。A、在色谱图上内标物单独出峰B、尽量使内标物峰与待测物峰相近C、内标物的响应信号足够大D、内标物的色谱峰为对称峰

电重量分析法中,作为沉淀剂的是:()A、电子B、阳离子C、阴离子D、待测离子

在滴定分析中,从滴定管中将标准溶液滴加到待测物质的溶液中,直到与待测组分的反应定量完成,此时,它们的体积相等。

在沉淀形成过程中,与待测离子半径相近的杂质离子常用待测离子一道与够晶离子形成()A、吸留B、混晶C、包夹D、继沉淀

重量分析中,若待测物质中含的杂质与待测物的离子半径相近,在沉淀过程中往往形成()A、表面吸附B、吸留与包藏C、混晶D、后沉淀

多选题样品预处理是为了()。A去除样品中的杂质;B富集待测物;C提高分析仪器的灵敏度;D排除样品中的干扰;E消除样品中待测物与基体的反应。

单选题样品预处理是为了()。A去除样品中的杂质B富集待测物C提高分析仪器的灵敏度D排除样品中的干扰E消除样品中待测物与其基体的反应

单选题电重量分析法中,作为沉淀剂的是:()A电子B阳离子C阴离子D待测离子

单选题在研制标准检验方法时,必须进行现场调查,主要目的是什么()。A了解待测物在空气中的存在状态B了解待测物在空气中的扩散规律C了解工人接触待测物的情况D了解现场生产过程中待测物的产生情况E了解现场气象条件对待测物的影响

单选题在原子吸收光谱分析中,加入消电离剂可以抑制电离干扰。一般来说,消电离剂的电离电位:()A比待测元素高B比待测元素低C与待测元素相近D与待测元素相同

单选题在重量分析中,待测物质中含的杂质与待测物的离子半径相近,在沉淀过程中往往形成()A混晶B吸留C包藏D后沉淀

单选题在研制标准检验方法时,必须进行现场调查,主要是了解()。A现场生产过程中待测物的产生情况B现场待测物在空气中的扩散规律C现场气象条件对待测物的影响D现场生产过程中待测物在空气中的存在状态E现场生产过程中工人接触待测物的情况

单选题样品预处理不能()。A去除样品中的杂质B富集待测物C提高分析仪器的灵敏度D排除样品中的干扰E消除样品中待测物与其基体的反应

多选题样品预处理的目的是()A去除样品中的杂质B富集待测物C排除样品中的干扰D提高分析仪器的灵敏度E消除样品中待测物与基体的反应