用介损仪反接线测量小电容量试品（＜50PF）的介损tgδ及Cx时，在附近处有物体（如梯子等）情况下测得的电容值较物体拆除拆除后测得的电容值（）。A、大B、相等C、小D、以上均不是
用介损仪反接线测量小电容量试品（＜50PF）的介损tgδ及Cx时，在附近处有物体（如梯子等）情况下测得的电容值较物体拆除拆除后测得的电容值（）。
- A、大
- B、相等
- C、小
- D、以上均不是
相关考题：
试品绝缘表面脏污，受潮，在试验电压下产生表面泄漏电流，对试品介损和电容量测量结果的影响程度是（）A、试品电容量越大，影响越大B、试品电容量越小，影响越小C、试品电容量越小，影响越大D、与试品电容量的大小无关
介质损耗测试主要试验步骤有（）。A、将被试品断电，先充分放电后有效接地B、检查电容量及介质损耗测试仪是否正常C、根据被试品类型及内部结构选择相应的接线方式，被试品试验接线并检查确认接线正确D、设置试验仪器参数（试验电压值、接线方式），升压至试验电压后读取电容值和介损值E、降压至零，然后断开电源，充分放电后拆除接线，恢复被试设备试验前接线状态，结束试验
测量互感器、套管等小电容量试品的介损tgδ时，如试品周围近距离内有大面积接地物体（墙壁、构架、栅栏等），通过（）耦合，会影响测量结果的真实性；对大电感试品，应将线圈首尾（），以消除电感、电容对测量准确度的影响。
测量CVT分接电容C2的介损和电容量时，C2的“δ”点接介损电桥的高压端，主电容C1高压端接介损电桥的“Cx”端，用正接线法测试。由于“δ”点绝缘水平有限，为保护“δ”，试验电压不超过（）。A、10000VB、5000VC、2500VD、1000V
单选题试品绝缘表面脏污，受潮，在试验电压下产生表面泄漏电流，对试品介损和电容量测量结果的影响程度是（）A试品电容量越大，影响越大B试品电容量越小，影响越小C试品电容量越小，影响越大D与试品电容量的大小无关