探头盲区范围可在()进行测量。

探头盲区范围可在()进行测量。


相关考题:

CSK-1A试块主要用于()A、探头分辨力及直探头盲区及穿透力B、声轴偏向角C、水平线性、垂直线性、动态范围D、前沿、K值及调整探测范围

以下哪一条,不属于双晶探头的优点()。A.检测范围大B.盲区小C.工件中近场长度小D.杂波小

下列关于BLIS盲区监测系统监测范围的描述,正确的是()。 A.盲区感应面积是以车辆前后保险杠下方探头为圆心,照射后方半径为3-12米之内的范围。B.盲区感应面积是以外后视镜下方探头为圆心,照射后方半径为1-6米之内的范围C.盲区感应面积是以外后视镜下方探头为圆心,照射后方半径为3-12米之内的范围D.盲区感应面积是以内后视镜下方探头为圆心,左右半径120°照射后方半径为5-10米之内的范围

SBZA侧面盲区接近预警,对左右侧盲区()的范围进行实时监测。A、3.0mB、3.5mC、3.8mD、4.0m

双晶直探头由于延迟块的存在,避免了始脉冲引起的盲区问题,可以检测近表面缺陷和进行薄板检测。

探头若不加阻尼块,盲区会变小。

双晶片联合探头,由于盲区小,因此有利()缺陷的探测。

SBZA侧面盲区接近预警,对左右侧盲区()m的范围进行实时监测。A、3.0B、3.5C、3.8D、4.0

以下哪一条,不属于双晶探头的优点()A、探测范围大B、盲区小C、工件中近场长度小D、杂波少

联合双直探头有()块压电晶片,在电路上和声路上(),晶片前装有(),此种探头有盲区(),有助于()的检出

减小探头盲区的方法主要是采用直径小的晶片制作探头。

利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离,只能测定直探头盲区的大致范围。

OTDR的工作特性中()决定了OTDR所能测量的最远距离。A、盲区B、发射功率C、分辨率D、动态范围

盲区是指探头的()。

探头盲区范围可在专用试块上进行测量。

CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔,其目的是()A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨率D、以上全部

盲区和分辨力都属于探伤仪和探头的综合性能。

CSK-1A试块有机玻璃可测定()。A、直探头盲区B、直探头穿透能力C、直探头盲区和穿透能力D、上述都不能测

()是表示OTDR测量光纤的长度指标。A、测量范围B、动态范围C、距离刻度D、衰减盲区

盲区决定OTDR测量精细程度的重要指标()A、反射盲区B、距离盲区C、衰减盲区D、事件盲区

判断题减小探头盲区的方法主要是采用直径小的晶片制作探头。A对B错

填空题双晶片联合探头,由于盲区小,因此有利()缺陷的探测。

判断题利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离,只能测定直探头盲区的大致范围。A对B错

单选题以下哪一条,不属于双晶探头的优点()。A检测范围大B盲区小C工件中近场长度小D杂波小

单选题CSK-1A试块有机玻璃可测定()。A直探头盲区B直探头穿透能力C直探头盲区和穿透能力D上述都不能测

判断题探头若不加阻尼块,盲区会变小。A对B错

单选题CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔,其目的是()A测定斜探头K值B测定直探头盲区范围C测定斜探头分辨力D以上全是