为保证微梯度和微电位在相同的接触条件下测量,必须采用()测量的方式。

为保证微梯度和微电位在相同的接触条件下测量,必须采用()测量的方式。


相关考题:

使用流量计进行重复测量的相同条件包括()。 A.不同的测量程序;相同的观测者;在相同地点、相同条件下使用相同的测量仪器B.相同的测量程序;不同的观测者;在相同地点、相同条件下使用相同的测量仪器C.相同的测量程序;相同的观测者;在不同地点、不同条件下使用相同的测量仪器D.相同的测量程序;相同的观测者;在相同地点、相同条件下使用相同的测量仪器

一、二等水准测量必须采用光学测微法读数。()此题为判断题(对,错)。

用机械式测微仪测工件均属于接触式测量,从测量角度看,点接触形式引起的测量误差()。A、较大B、大C、较小D、正好

测量时,千分尺测微螺杆必须和工件中心线垂直,不能歪斜。

采用触针式表面粗糙度测量仪测量时,触引的测量力必须保证它与工件轻微接触,否则会划伤工件表面。

微电极测井通常采用()测量法,其微电位和微梯度电极系的探测范围()。A、贴井壁,相同B、居中,相同C、居中,不同D、贴井壁,不同

在渗透性层段上,微梯度的测量结果受()影响大,而微电位主要受()的影响。A、泥饼,冲洗带B、冲洗带,泥饼C、泥饼,井筒钻井液D、冲洗带,原状地层

接触线磨耗测量采用精度为0.1mm的()或测微仪,测量磨损严重处的接触线残存高度。A、0.1B、1C、游标卡尺D、测微仪

常用螺旋测微器的测量精度为()

测量时,外径千分尺的()和测量件直接接触。A、砧座和测微螺杆B、手柄和棘爪C、测微螺杆和棘爪D、微分筒和棘爪

短路追踪仪采用()方式寻找短路点。A、电流流向追踪B、微电阻测量C、微电压测量D、微电流测量

小型工件垂直度误差的测量通常采用()。A、光隙法B、测微仪法C、方箱法D、自准直仪法

SF6微水含量测量,应采用()法测量。A、电解法B、露点法C、重量法

微梯度电极距为()。微电位电极距为()。

微电极极板上()个电极可同时完成微梯度及微电位测量。A、1B、2C、3D、4

接触线磨耗测量采用精度为()mm的游标卡尺或测微仪,测量磨损严重处的接触线残存高度。A、0.1B、1C、游标卡尺D、测微仪

接触线磨耗测量采用精度为0.1mm的游标卡尺或(),测量磨损严重处的接触线残存高度。A、0.1B、1C、游标卡尺D、测微仪

微梯度电极系的测量结果主要反映(),微电位电极系的测量结果主要反映()。

非渗透层微梯度与微电位一般为()。A、微梯度大于微电位B、微梯度小于微电位C、微梯度约等于微电位D、二者没有关系

微(电)波暗室实验室工程中哪些属于功能性房间()。A、微(电)波暗室B、测量控制室C、准备间D、技术间E、传导测量间

GIS在投运前不需进行()试验A、交流耐压测量B、直流耐压测量C、接触电阻测量D、微水测量

单选题接触线磨耗测量采用精度为0.1mm的游标卡尺或(),测量磨损严重处的接触线残存高度。A0.1B1C游标卡尺D测微仪

多选题微(电)波暗室实验室工程中哪些属于功能性房间()。A微(电)波暗室B测量控制室C准备间D技术间E传导测量间

多选题接触线磨耗测量采用精度为0.1mm的()或(),测量磨损严重处的接触线残存高度。A游标卡尺B测微仪C直尺D卷尺E皮尺F道尺

单选题接触线磨耗测量采用精度为0.1mm的()或测微仪,测量磨损严重处的接触线残存高度。A0.1B1C游标卡尺D测微仪

单选题接触线磨耗测量采用精度为()mm的游标卡尺或测微仪,测量磨损严重处的接触线残存高度。A0.1B1C游标卡尺D测微仪

单选题用机械式测微仪测工件均属于接触式测量,从测量角度看,点接触形式引起的测量误差()。A较大B大C较小D正好