造成卷褶伪影主要是因为()A、视场的范围超出被检物体B、被检物体超出视场的范围C、TR过大D、TE过大E、扫描时间过长

造成卷褶伪影主要是因为()

  • A、视场的范围超出被检物体
  • B、被检物体超出视场的范围
  • C、TR过大
  • D、TE过大
  • E、扫描时间过长

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造成卷褶伪影主要是因为A.视场的范围超出被检物体B.被检物体超出视场的范围C.TR过大D.TE过大E.扫描时间过长

关于卷褶伪影的说法,正确的是A、卷褶伪影是由于FOV过大造成的B、卷褶伪影在2D采集中经常出现,在3D采集中不会出现C、卷褶伪影出现在频率编码方向D、卷褶伪影出现在相位编码方向E、卷褶伪影既可以出现在相位编码方向上,也可以出现在频率编码方向上

主要出现在频率编码方向的图像伪影是()。A、运动伪影B、磁敏感伪影C、截断伪影D、卷褶伪影E、化学位移伪影

在下列有关MRI卷褶伪影的表述中,错误的是:()。A、受检物体尺寸大于FOV的大小 ,FOV外的组织信号将折叠到图像另一侧B、卷褶伪影通常出现在相位编码方向上C、卷褶伪影通常出现在频率编码方向上D、增大FOV可有效避免卷褶伪影E、在相位编码上过度采样能避免褶伪影

MRI设备伪影主要有A.化学位移伪影B.卷褶伪影C.截断伪影D.部分容积效应E.层间干忧

金属产生的伪影称()A、运动伪影B、卷褶伪影C、化学位移伪影D、磁敏感性伪影E、截断伪影

不属于磁共振伪影的是()A、化学位移伪影B、运动伪影C、卷褶伪影D、截断伪影E、放射状伪影

多选题关于卷褶伪影的叙述,正确的是()A卷褶伪影是由于FOV小于受检部位所致B卷褶伪影主要发生在频率编码方向上C变换频率编码和相位编码方向可消除卷褶伪影D施加空间预饱和带可抑制卷褶伪影E增大FOV可增加卷褶伪影出现的频率

单选题造成卷褶伪影主要是因为()A视场的范围超出被检物体B被检物体超出视场的范围CTR过大DTE过大E扫描时间过长

单选题在下列有关MRI卷褶伪影的表述中,错误的是()A受检物体尺寸大于FOV的大小,FOV外的组织信号将折叠到图像另一侧B卷褶伪影通常出现在相位编码方向上C卷褶伪影通常出现在频率编码方向上D增大FOV可有效避免卷褶伪影E在相位编码上过度采样能避免褶伪影

单选题主要出现在频率编码方向的图像伪影是()A运动伪影B磁敏感伪影C截断伪影D卷褶伪影E化学位移伪影