测微尺的最大数值是度盘的最大刻划。

测微尺的最大数值是度盘的最大刻划。


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采用单平行板玻璃测微器(活动测微器)的经纬仪(如北京虹旗Ⅱ型经纬仪)的度盘最小刻划值是()A①2″B②6″C③1°D④30′

J2经纬仪的读数测微器是通过度盘一直径两端的棱镜将其影像复合重叠在一起,叫做双像符合法,这是为了在一次读数时能抵消()的影响。A、度盘偏心差B、估读误差C、度盘刻划不均D、仪器不满足几何条件

水平角观测通过增加测回数、变化度盘位置的方法来消除()。A、视准轴误差B、度盘刻划误差C、水平轴误差D、度盘偏心误差

采用变换度盘位置多测回观测取平均的方法测水平角可减弱()误差的影响。A、对中B、整平C、目标偏心D、水平度盘刻划不均匀

在各测回中,应将()均匀分配在度盘和测微盘上,这样可以消除或减弱度盘、测微盘分划误差的影响。

光学经纬仪上小于度盘分化值是由()读出的。A、度盘B、测微器C、竖直度盘D、水平度盘

水平角观测通过增加测回数、变换度盘位置的方法来消除()。A、视准轴误差B、度盘偏心误差C、度盘刻划误差

水平角观测时,各测回间要求变换度盘位置,其目的是()A、改变起始方向的度盘度数B、减小度盘偏心差的影响C、便于检查观测的粗差D、减弱度盘刻划误差的影响

要减弱度盘刻划误差对水平角观测的影响,采用的正确方法应是()A、各测回间改变度盘起始位置B、盘左盘右观测C、消除视差D、认真估读减少读数误差

水平角测角精度要求较高时,可观测多个测回,每测回变换度盘的起始位置是为了消除度盘刻划不均匀误差。

分微尺测微器的读数方法:读数时,先调节望远镜(),使能清晰地看到读数窗内度盘的影像。然后读出位于分微尺内的度盘分划线的注记度数,再以度盘分划线为指标,在分微尺读取不足1º的分数,并估读秒数(秒数只能是6的倍数)。

测微尺的最大数值是度盘的()。

DJ6-1型的仪器,通过测微尺读出小于度盘格值的分秒数,在测微尺上每小格表示()秒。A、6B、10C、20D、30

在显微镜下应用镜台测微尺标定目镜测微尺和进行显微测量时,下列哪一叙述正确?()A、在低倍镜下标定的目镜测微尺每格的数值比高倍镜下标定的小B、在低倍镜下标定的目镜测微尺每格的数值与高倍镜下标定的相等C、在低倍镜下标定的目镜测微尺每格的数值比高倍镜下标定的大D、在低倍镜下测定的细胞小E、在高倍镜下测定的细胞大

关于测回法以下说法正确的是()。A、每个测回只要配置度盘一次B、上下半测回均要各自配置度盘C、不同测回要按规定分别配置度盘D、不同测回均按相同的数值配置度盘

水平角观测时各测回起始读数应按180°/n递增的目的是()A、便于计算B、消减度盘偏心差C、减少读数系统差D、消减度盘刻划误差

用测回法测水平角,各测回间改变度盘起始位置是为了消除()误差。A、视准轴B、横轴C、指标差D、度盘刻划不均匀误差

各测回间改变度盘起始位置是为了消除()误差。A、视准轴B、横轴C、指标差D、度盘刻划

全站仪主机是一种光、机、电、算、贮存一体化的高科技全能测量仪器。测距部分由发射、接收与照准成共轴的系统的望远镜完成,测角部分由()系统完成,机中微机编有各种应用程序,可完成各种计算与贮存功能。A、光学度盘B、测微轮光学度盘C、测微尺光学度盘D、电子编码测角

多测回观测水平角是为了减弱度盘刻划不均匀对测角的影响。

判断题多测回观测水平角是为了减弱度盘刻划不均匀对测角的影响。A对B错

单选题采用单平行板玻璃测微器(活动测微器)的经纬仪(如北京虹旗Ⅱ型经纬仪)的度盘最小刻划值是()A①2″B②6″C③1°D④30′

填空题在各测回中,应将()均匀分配在度盘和测微盘上,这样可以消除或减弱度盘、测微盘分划误差的影响。

填空题测微尺的最大数值是度盘的()。

单选题DJ6-1型的仪器,通过测微尺读出小于度盘格值的分秒数,在测微尺上每小格表示()秒。A6B10C20D30

单选题水平角观测通过增加测回数、变换度盘位置的方法来消除()。A视准轴误差B度盘偏心误差C度盘刻划误差

单选题全站仪主机是一种光、机、电、算、贮存一体化的高科技全能测量仪器。测距部分由发射、接收与照准成共轴的系统的望远镜完成,测角部分由()系统完成,机中微机编有各种应用程序,可完成各种计算与贮存功能。A光学度盘B测微轮光学度盘C测微尺光学度盘D电子编码测角