单选题当选用50KV的管电压进行X射线探伤时,应采用何种增感屏?()A荧光增感屏B无需增感屏C铅箔增感屏D金属荧光增感屏

单选题
当选用50KV的管电压进行X射线探伤时,应采用何种增感屏?()
A

荧光增感屏

B

无需增感屏

C

铅箔增感屏

D

金属荧光增感屏


参考解析

解析: 暂无解析

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以X射线对厚度60mm的工件进行透照,若胶片与增感屏在一定的管电压下的固有不清晰度Ui=0.2mm,当X光管焦点为φ2mm时,为保证底片不受几何不清晰度影响,焦距至少应选择多少mm?

对大晶粒金属零件进行射线照相时,为了减轻衍射斑点的影响,可以提高管电压并使用荧光增感屏。

当选用100KV-200KV的管电压进行透照时,对铅增感屏的增感系数是不变的。

通常对于管电压大于150KVP的X射线,铅箔才能起增感作用,而对于管电压低于150KVP的X射线,铅箔对于射线的减弱作用大于射线的增强作用,所以没有增感作用。

采用中子照相法时,其曝光方法是利用荧光增感屏+X射线胶片曝光。

对大晶粒金属零件进行射线照相时,为了减轻衍射斑点的影响,可以提高管电压并使用铅箔增感屏。

对大晶粒金属零件进行射线照相时,为了减轻衍射斑点的影响,可以降低管电压并使用铅箔增感屏。

用铅箔做增感屏时,若X射线管电压太高,会产生磷光现象。

当采用射线探伤方法时,应优先采用X射线源进行透照检测。

当检测厚度小T50mm的焊缝时,应采用()。A、X射线探伤B、γ射线探伤C、超声波探伤D、磁粉探伤

当选用50KV的管电压进行X射线探伤时,应采用何种增感屏?()A、荧光增感屏B、无需增感屏C、铅箔增感屏D、金属荧光增感屏

采用中子照相法时,下列哪一种曝光方法是正确的?()A、直接用X射线胶片曝光B、利用镉屏和钆屏受中子激发后再使用X射线胶片曝光C、利用铅箔增感屏加X射线胶片曝光D、利用荧光增感屏加X射线胶片曝光

当管电压高于()Kv时,应使用铅增感屏

下列关于增感屏使用的叙述中,哪种是正确的?()A、用荧光增感屏进行X射线照相时,曝光时间可以显著缩短,但底片的像质较差B、荧光增感屏的增感作用不如铅箔增感屏C、用铅箔增感屏时,若X射线管的管电压太高,会产生磷光现象D、用荧光增感屏进行X射线照相时,曝光时间虽然较长,但底片的像质较好

金属增感屏的增感系数随着X射线管电压的降低而()

大晶粒金属零件射线照相时,用什么方法可以减轻衍射斑点的影响?()A、提高管电压并使用荧光增感屏B、降低管电压并使用铅箔增感屏C、提高管电压并使用铅箔增感屏D、降低管电压并使用荧光增感屏

当采用高KV值X射线照相法时,几乎所有的曝光均需要使用铅箔增感屏。

对于管电压低于150KV的X射线,铅箔增感屏不能起到增感作用。

X射线照相时应尽量采用金属增感屏,因为它与荧光增感屏相比,具有更高的增感系数。

X射线底片清晰度不好,可能是由于()。A、采用非增感型胶片、铅增感组合B、采用低管压、高电流照相C、采用增感型胶片与荧光增感屏组合D、射线管焦点小

当检测厚度小于50mm的焊缝时,应采用()。A、X射线探伤B、γ射线探伤C、超声波探伤D、磁粉探伤

单选题大晶粒金属零件射线照相时,用什么方法可以减轻衍射斑点的影响?()A提高管电压并使用荧光增感屏B降低管电压并使用铅箔增感屏C提高管电压并使用铅箔增感屏D降低管电压并使用荧光增感屏

判断题当采用射线探伤方法时,应优先采用X射线源进行透照检测。A对B错

问答题以X射线对厚度60mm的工件进行透照,若胶片与增感屏在一定的管电压下的固有不清晰度Ui=0.2mm,当X光管焦点为φ2mm时,为保证底片不受几何不清晰度影响,焦距至少应选择多少mm?

填空题金属增感屏的增感系数随着X射线管电压的降低而()

填空题当管电压高于()Kv时,应使用铅增感屏

单选题采用中子照相法时,下列哪一种曝光方法是正确的?()A直接用X射线胶片曝光B利用镉屏和钆屏受中子激发后再使用X射线胶片曝光C利用铅箔增感屏加X射线胶片曝光D利用荧光增感屏加X射线胶片曝光

单选题当选用50KV的管电压进行X射线探伤时,应采用何种增感屏?()A荧光增感屏B无需增感屏C铅箔增感屏D金属荧光增感屏