对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是A．主观性颗粒质量——肉眼观察获得的颗粒状况B．客观性颗粒质量——物理学检查的颗粒状况C．常用的检测方法有RMS的测量D．常用的检测方法有维纳频谱的测量E．MTF用来测量颗粒度
对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是
A．主观性颗粒质量——肉眼观察获得的颗粒状况
B．客观性颗粒质量——物理学检查的颗粒状况
C．常用的检测方法有RMS的测量
D．常用的检测方法有维纳频谱的测量
E．MTF用来测量颗粒度
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关于照片斑点(噪声)的说法错误的是( )。A.照片肉眼能见到有颗粒聚集的区域，称做斑点(噪声)B.卤化银颗粒尺寸大约1~2 μm，肉眼是看不到的C.X线照片斑点主要是量子斑点形成的D.量子斑点就是X线量子的统计涨落在照片上记录的反映E.假若X线量子数无限多，单位面积里的量子数就会因位置不同而不同
关于X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是A.主观性颗粒质量—肉眼观察获得的颗粒状况B.客观性颗粒质量—物理学检查的颗粒状况C.常用的检测方法有RMS的测量D.常用的检测方法有维纳频谱的测量E.MTF用来测量颗粒度
所谓X线照片噪声,是指A.荧光体颗粒B.乳剂银颗粒C.银颗粒、荧光体颗粒组合SX 所谓X线照片噪声，是指A.荧光体颗粒B.乳剂银颗粒C.银颗粒、荧光体颗粒组合D.X线照片斑点E.X线照片的颗粒度
关于胶片颗粒性及颗粒度的描述，错误的是A．胶片颗粒性是胶片的影像质量参数之一B．胶片经曝光、显影加工后，形成影像银粒的大小及分布状态称胶片颗粒性C．表示颗粒性的量度值为颗粒度D．颗粒度小的胶片，照片影像细腻、清晰度高E．颗粒度主要受量子斑点的影响，而与增感屏的结构斑点无关
关于X线照片颗粒度的叙述，错误的是A．物理测定值为颗粒度B．X线量了斑点影响照片颗粒性C．X线照片上颗粒聚集的区域，称噪声D．增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素E．量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上的记录
关于X线照片颗粒度的叙述，错误的是A．物理测定值为颗粒度B．X线量子斑点影响照片颗粒性C．X线照片上颗粒聚集的区域，称噪声D．增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素E．量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上记录
与照片颗粒性无关的因素是A.胶片对比度B.胶片感色性C.胶片卤化银颗粒 与照片颗粒性无关的因素是A.胶片对比度B.胶片感色性C.胶片卤化银颗粒D.X线量子斑点(噪声)E.增感屏荧光体尺寸和分布
关于颗粒剂的制备工艺，正确的是A.制软材→制湿颗粒→干燥→整粒→质量检查B.制湿颗粒→制软材→干燥→整粒→质量检查C.制湿颗粒→干燥→制软材→整粒→质量检查D.制软材→制湿颗粒→整粒→干燥→质量检查E.制软材→干燥→制湿颗粒→整粒→质量检查
关于胶片颗粒性及颗粒度的描述，错误的是（）A、胶片颗粒性是胶片的影像质量参数之一B、胶片经曝光、显影加工后，形成影像银粒的大小及分布状态称胶片颗粒性C、表示颗粒性的量度值为颗粒度D、颗粒度小的胶片，照片影像细腻、清晰度高E、颗粒度主要受量子斑点的影响，而与增感屏的结构斑点无关
关于照片斑点（噪声）的说法错误的是（）A、照片肉眼能见到有颗粒聚集的区域，称做斑点（噪声）B、卤化银颗粒尺寸大约1~2μm，肉眼是看不到的C、X线照片斑点主要是量子斑点形成的D、量子斑点就是X线量子的统计涨落在照片上记录的反映E、假若X线量子数无限多，单位面积里的量子数就会因位置不同而不同
关于X线照片颗粒度的叙述，正确的是（）.A、照片图像粗糙或砂砾状效果称为颗粒性B、物理测定值为颗粒度C、照片上一定区域内大量集中的不规则的颗粒为斑点D、量子斑点是X线量子的统计涨落的记录E、以上全是
单选题对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是（）A主观性颗粒质量-肉眼观察获得的颗粒状况B客观性颗粒质量-物理学检查的颗粒状况C常用的检测方法有RMS的测量D常用的检测方法有维纳频谱的测量EMTF用米测量颗粒度
单选题关于胶片颗粒性及颗粒度的描述，错误的是（）A胶片颗粒性是胶片的影像质量参数之一B胶片经曝光、显影加工后，形成影像银粒的大小及分布状态称胶片颗粒性C表示颗粒性的量度值为颗粒度D颗粒度小的胶片，照片影像细腻、清晰度高E颗粒度主要受量子斑点的影响，而与增感屏的结构斑点无关
单选题对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是（ ）。A主观性颗粒质量——肉眼观察获得的颗粒状况B客观性颗粒质量——物理学检查的颗粒状况C常用的检测方法有RMS的测量D常用的检测方法有维纳频谱的测量EMTF用来测量颗粒度
单选题关于X线照片颗粒度的叙述，错误的是（ ）。A物理测定值为颗粒度BX线量子斑点影响照片颗粒性CX线照片上颗粒聚集的区域，称噪声D增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素E量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上的记录
单选题所谓X线照片噪声，是指（ ）。A荧光体颗粒B乳剂银颗粒C银颗粒、荧光体颗粒组合DX线照片斑点EX线照片的颗粒度