以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样,则两者的缺陷() A、当量相同B、铸件中的大C、锻件中的大D、上述都不对
以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样,则两者的缺陷()
A、当量相同
B、铸件中的大
C、锻件中的大
D、上述都不对
相关考题：
一工件厚度为350mm,用2MHz直探头发现在距探测面200mm处有—缺陷回波,比底波低24dB,此缺陷相当于()当量直径的平底孔(钢G=5900m/s)。A.7mmB.6mmC.5mmD.3.7mm
下列尺寸和深度都相同的缺陷,在相同探伤灵敏度下探测,回波最高的是() A、最大表面与波束轴线呈75°角且平滑的缺陷B、最大表面与波束轴线呈75°角且粗糙的缺陷C、最大表面与波束轴线呈90°角且平滑的缺陷D、最大表面与波束轴线相垂直且粗糙的缺陷
用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷,调节衰减器使其回波降至屏高的50%,前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB,后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则() A、前一个缺陷大于后一个B、后一个缺陷大于前一个C、两者一样大D、任意
在远场区用探测面为平面的对比试块中的Φ2mm平底孔校准的探伤灵敏度,去探测一个探测面为圆柱面的试件,发现一个深度和回波高度均与上述试块平底回波相同的缺陷,则该缺陷的当量() A、等于Φ2mm平底孔B、比Φ2mm平底孔大C、比Φ2mm平底孔小D、大于等于Φ2mm平底孔
用探测面为平面的对比试块中 φ 2mm平底孔校准的探伤灵敏度，去探测一个探测面为圆柱面的试件，发现一个深度和回波高度均与试块相同的缺陷，则该缺陷的当量。（ ）A.等于φ2mm平底孔B.比φ2mm平底孔大C.比φ2mm平底孔小D.不小于φ2mm平底孔
方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是()A.平行且靠近探测面B.与声束方向平行C.与探测面成较大角度D.平行且靠近底面