关于根分叉病变的分度，哪、项描述不正确A.2度：只有一侧或双侧可探入分叉区，但不能穿通，X线片示：骨密度略降低B.4度：探针能通过分叉区，且无牙龈覆盖，X线片示：骨密度降低区C.1度：可及分叉外形，X线片示：无异常表现D.3度：探针能通过分叉区，但有牙龈覆盖，X线片示：骨密度降低区E.2度：只有一侧可探入分叉区X线片示：骨密度略降低
关于根分叉病变的分度，哪、项描述不正确
A.2度：只有一侧或双侧可探入分叉区，但不能穿通，X线片示：骨密度略降低
B.4度：探针能通过分叉区，且无牙龈覆盖，X线片示：骨密度降低区
C.1度：可及分叉外形，X线片示：无异常表现
D.3度：探针能通过分叉区，但有牙龈覆盖，X线片示：骨密度降低区
E.2度：只有一侧可探入分叉区X线片示：骨密度略降低
B.4度：探针能通过分叉区，且无牙龈覆盖，X线片示：骨密度降低区
C.1度：可及分叉外形，X线片示：无异常表现
D.3度：探针能通过分叉区，但有牙龈覆盖，X线片示：骨密度降低区
E.2度：只有一侧可探入分叉区X线片示：骨密度略降低
参考解析
解析：
相关考题：
关于根分叉病变的描述不正确的是A、可用普通的弯探针探查B、检查上颌磨牙时，先探查颊侧中央处的根分叉区C、检查下颌磨牙时，从颊侧和舌侧中央处分别探查根分叉区D、X线片的表现常比实际病变轻E、发生根分叉病变的患牙是松动牙
下列有关根分叉病变分度的描述中，哪一项不正确A．Ⅰ度：可探及根分叉外形，X线片示无异常表现B．Ⅱ度：只有一侧可探入根分叉区，X线片示骨密度略降低C．Ⅱ度：一侧或双侧可探入根分叉区，但不能穿通，X线片示骨密度略降低D．Ⅲ度：探针能通过根分叉区，但有牙龈覆盖，X线片示骨密度降低区E．Ⅳ度：探针能通过根分叉区，且无牙龈覆盖，X线片示骨密度降低区
关于根分叉病变的描述不正确的是A.下颌磨牙的根分叉病变较易探查B.上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入C.上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度或Ⅲ度D.X线片的表现常比实际病变轻E.发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙
男，60岁。主诉左下后牙咀嚼疼痛。口腔检查：牙体无明显病变，颊侧牙周袋深6mm，牙龈退缩可见根分叉区完全开放，探针能水平通过分叉区，X线片示：根分叉区完全开放。按Glickman根分叉病变分度法，此根分叉病变属于（）。A、Ⅰ度B、Ⅱ度C、Ⅲ度D、Ⅳ度E、正常
关于根分叉病变的分度，哪、项描述不正确（）A、1度：可及分叉外形，X线片示：无异常表现B、2度：只有一侧可探入分叉区X线片示：骨密度略降低C、2度：只有一侧或双侧可探入分叉区，但不能穿通，X线片示：骨密度略降低D、3度：探针能通过分叉区，但有牙龈覆盖，X线片示：骨密度降低区E、4度：探针能通过分叉区，且无牙龈覆盖，X线片示：骨密度降低区
关于根分叉病变的描述不正确的是（）A、下颌磨牙的根分叉病变较易探查B、上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入C、上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度或Ⅲ度D、X线片的表现常比实际病变轻E、发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙
单选题关于根分叉病变的分度，哪、项描述不正确（）A1度：可及分叉外形，X线片示：无异常表现B2度：只有一侧可探入分叉区X线片示：骨密度略降低C2度：只有一侧或双侧可探入分叉区，但不能穿通，X线片示：骨密度略降低D3度：探针能通过分叉区，但有牙龈覆盖，X线片示：骨密度降低区E4度：探针能通过分叉区，且无牙龈覆盖，X线片示：骨密度降低区
单选题关于根分叉病变的描述不正确的是（）A可用普通的弯探针探查B检查上颌磨牙时，先探查颊侧中央处的根分叉区C检查下颌磨牙时，从颊侧和舌侧中央处分别探查根分叉区DX线片的表现常比实际病变轻E发生根分叉病变的患牙是松动牙