用静压法测量开口容器时，液位高低取决于介质密度和容器横截面。
用静压法测量开口容器时，液位高低取决于介质密度和容器横截面。
相关考题：
关于串级控制系统副参数的选择及副回路的设计描述错误的是（）.A、主副变量是独立的没有联系。B、系统的主要干扰应包围在副回路中。C、在可能的情况下，应使副环包围更多的次要干扰。D、副变量的选择应考虑主副对象时间常数的匹配，防止共振的发生。
使用多功能数字万用表测量电容的描述错误的是（）A、该表测电容的方法是用一个已知电流给待测电容器充电一段已知时间，然后再测此电容的电压，再计算出电容值。B、测电容之前必须先给它放电。C、测电容之前无需切断该电容的电源。D、测电容之前先要测量其电压以确认是否放电完毕。
普通双金属温度表校准点不应少于两点。