在射线探伤中,用什么样的装置可以显示射线的分辨率?()A、透度计B、放射量测定仪C、铅屏D、所有上述的E、以上都不是

在射线探伤中,用什么样的装置可以显示射线的分辨率?()

  • A、透度计
  • B、放射量测定仪
  • C、铅屏
  • D、所有上述的
  • E、以上都不是

相关考题:

下列各因素中不改变散射线对影像质量影响的是()。 A、提高射线能量B、增加曝光时间C、使用铅箔增感屏D、以上都不是

用铅箔增感屏得到的底片,物体影像的清晰度不好,要想改善其清晰度,可以()。 A、改用粗粒胶片B、改用大焦点射线源C、增大射线源到胶片的距离D、改用荧光增感屏

在所有质量控制方法中最基本的方法是?()A、射线探伤(RT)B、渗透探伤(PT)C、目视检验(VT)D、所有上述的E、以上都不是

下列哪种不连续通常无法被射线探伤所发现?()A、裂纹B、未焊透C、气孔D、分层E、以上都不是

电焊焊道射线检测中,焊冠及背面套板不能磨平时,在像质计下面应置何物?()A、铅增感屏B、铅字C、与被照物相同射线吸收系数材料的垫片D、以上都是

射线探伤可以使用下列哪种设备?()A、x射线B、铯137C、铱192D、钴60E、所有上述的

用什么样的无损探伤方法可能测得热处理中的变化?()A、涡流B、射线C、磁粉D、超声波E、以上都不是

射线探伤中屏蔽散射线的方法是()A、铅箔增感屏和铅罩B、滤板和光阑C、暗盒底部铅板D、以上全是

以下有关γ射线探伤的说法错误的是()A、γ射线源的能量是否适当直接影响到检验的灵敏度B、在γ射线探伤中,应选取放射性比活度较小的源。C、过短的半衰期会给使用带来不利的影响D、以上不全对

下列关于增感屏使用的叙述中,哪种是正确的?()A、用荧光增感屏进行X射线照相时,曝光时间可以显著缩短,但底片的像质较差B、荧光增感屏的增感作用不如铅箔增感屏C、用铅箔增感屏时,若X射线管的管电压太高,会产生磷光现象D、用荧光增感屏进行X射线照相时,曝光时间虽然较长,但底片的像质较好

射线照相灵敏度的绝对灵敏度就是()A、射线照片上可发现的最小缺陷尺寸B、射线照片上可识别的像质计最小细节尺寸C、对所有像质计统一规定的像质指数D、以上都不是

在中低能量射线照相中,使用铅增感屏的底片的固有不清晰度()。A、大于不使用铅增感屏的底片B、与不使用铅增感屏的底片相同C、小于不使用铅增感屏的底片D、以上都不对

曝光过程中,与X射线胶片紧密接触的铅增感屏可提高底片黑度,其原因是()。A、铅增感屏会产生可见光和荧光B、铅屏可吸收散射线C、防止背散射造成胶片灰雾D、铅屏受X射线和γ射线照射会发生二次电子

在射线透照探伤中,底片黑度值可用()测定。A、透度计B、黑度计C、黑度片D、增感屏

在进行辐射防护时,对各种射线应选用的物质为:()A、各种射线均用铅屏敝B、X和γ射线用原子序数低的物质如塑料和有机玻璃等进行屏敝C、β射线用重原子序数物质D、α射线外照射用手套即可屏敝

在射线探伤中,如何辨别焊缝中的未焊透缺陷?

在射线探伤中,影响缺陷检测的因素很多,除了X射线胶片和增感屏的特性、散射线对射线照相的影响外还有几何不清晰度、固有不清晰度、()、射线的入射方向及透照厚度差等。

射线照相检验,透度计通常放在()。A、增感屏和胶片之间B、被检物体靠近射线源的一侧C、被检物体靠近胶片的一侧D、增感屏和被检物体之间

单选题在射线透照探伤中,底片黑度值可用()测定。A透度计B黑度计C黑度片D增感屏

单选题电焊焊道射线检测中,焊冠及背面套板不能磨平时,在像质计下面应置何物?()A铅增感屏B铅字C与被照物相同射线吸收系数材料的垫片D以上都是

单选题用γ射线进行施工探伤是采用()作为射线源的。A放射线B同位素C激光D放射线同位素

单选题用铅箔增感屏得到的底片,物体影像的清晰度不好,要想改善其清晰度,可以()A改用粗粒胶片B改用大焦点射线源C增大射线源到胶片的距离D改用荧光增感屏

单选题射线照相灵敏度的绝对灵敏度就是()A射线照片上可发现的最小缺陷尺寸B射线照片上可识别的像质计最小细节尺寸C对所有像质计统一规定的像质指数D以上都不是

单选题以下有关γ射线探伤的说法错误的是()Aγ射线源的能量是否适当直接影响到检验的灵敏度B在γ射线探伤中,应选取放射性比活度较小的源。C过短的半衰期会给使用带来不利的影响D以上不全对

单选题射线照相检验,透度计通常放在()。A增感屏和胶片之间B被检物体靠近射线源的一侧C被检物体靠近胶片的一侧D增感屏和被检物体之间

单选题射线探伤中屏蔽散射线的方法是()A铅箔增感屏和铅罩B滤板和光阑C暗盒底部铅板D以上全是

单选题下列各因素中不改变散射线对影像质量影响的是()A提高射线能量B增加曝光时间C使用铅箔增感屏D以上都不是