半高度法是指用缺陷最大反射波高度降低一半（-6dB）作为缺陷边缘的指示缺陷长度的方法。
半高度法是指用缺陷最大反射波高度降低一半（-6dB）作为缺陷边缘的指示缺陷长度的方法。
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按JB／T4730－2005《承压设备无损检测》规定的对缺陷自身高测定方法是依据:() A.端部最大回波和端点衍射波法是利用回波高度B.端部最大回波法和端点衍射波法是利用回波延迟时间差C.端部最大回波法和半波高度法是利用回波高度D.半波高度法和端点衍射波法是利用回波延迟时间差
影响缺陷反射波高度的因素有以下五个方面： ①（）； ②对被检工件来说，有探测面形状、厚度、粗糙度、晶粒结构、声速、衰减等； ③从缺陷角度看，有缺陷的深度、形状、方向、大小、内部介质等； ④耦合剂的衰减、声速、厚度等能影响反射波高度； ⑤声束的方向、扩散角、能量等也影响反射波高度。
采用小角度纵波法检测实心柱形支柱瓷绝缘子，下列选项中评定不合格的有（）。A、当反射波幅达到或超过5mm深人工切槽的缺陷时B、当反射波幅大于5mm深人工切槽-6dB的表面缺陷，且缺陷指示长度超过10mm的缺陷时C、当反射波幅大于5mm深人工切槽-6dB的内部缺陷，且缺陷指示长度超过20mm的缺陷时D、当缺陷处底波与正常底波比较有明显降低时
判断题半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。A对B错