填空题缺陷反射波的高度与缺陷的(),(),()有关。

填空题
缺陷反射波的高度与缺陷的(),(),()有关。

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对于缩径类缺陷,其反射波与入射波();对于扩径类缺陷,其反射波与入射波()。

棱边再生波主要用于测定:()A、缺陷的长度B、缺陷的性质C、缺陷的位置D、缺陷的高度

半高度法是指用缺陷最大反射波高度降低一半(-6dB)作为缺陷边缘的指示缺陷长度的方法。

脉冲反射法可分为缺陷反射法、底波高度法、多次底波法。

锻件超声检测中,常见的非缺陷回波分为三角反射波、迟到波、密集缺陷反射波。

以下哪些缺陷尺寸的评定方法适用于焊缝等横波检测()A、缺陷回波高度与底面回波高度比较B、缺陷回波高度与参考反射体回波高度比较C、以缺陷回波高度与基准波高的分贝差计算当量D、缺陷指示长度测定

与声束不垂直的光滑平面状缺陷反射波的显示不是()。A、回波幅度与底面反射波高度相差不大B、底面反射完全消失C、缺陷反射波高于底面回波D、底波与缺陷波同时存在

超声波垂直入射到表面粗糙的缺陷与入射到尺寸相同而表面光滑的缺陷相比()。A、前者反射波高B、前者反射波低C、反射波相同D、前者反射波无规律性变化

缺陷反射波的高度与缺陷的(),(),()有关。

A型显示的探伤仪评定缺陷大小可利用的信息有()。A、缺陷的反射波高、被反射的损失和自表面测得的缺陷延伸度B、缺陷的反射波高C、被反射的损失和自表面测得的缺陷延伸度D、自表面测得的缺陷延伸度

影响缺陷反射波高度的因素有以下五个方面: ①(); ②对被检工件来说,有探测面形状、厚度、粗糙度、晶粒结构、声速、衰减等; ③从缺陷角度看,有缺陷的深度、形状、方向、大小、内部介质等; ④耦合剂的衰减、声速、厚度等能影响反射波高度; ⑤声束的方向、扩散角、能量等也影响反射波高度。

在超声波探伤中,缺陷的形状对缺陷反射波的高度有什么影响?

在超声波探伤中,缺陷的表面状态对缺陷反射波的高度有什么影响?

声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时,缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是()。A、反射波高随粗糙度的增大而增加B、无影响C、反射波高随粗糙度的增大而下降

缺陷处反射波强烈程度与()因素有关。A、波速B、距桩顶距离C、缺陷的程度D、混凝土强度

判断题半高度法是指用缺陷最大反射波高度降低一半(-6dB)作为缺陷边缘的指示缺陷长度的方法。A对B错

多选题缺陷处反射波强烈程度与()因素有关。A波速B距桩顶距离C缺陷的程度D混凝土强度

判断题脉冲反射法可分为缺陷反射法、底波高度法、多次底波法。A对B错

问答题在超声波探伤中,缺陷的表面状态对缺陷反射波的高度有什么影响?

单选题超声波垂直入射到表面粗糙的缺陷与入射到尺寸相同而表面光滑的缺陷相比()。A前者反射波高B前者反射波低C反射波相同D前者反射波无规律性变化

问答题在超声波探伤中,缺陷的方向对缺陷反射波的高度有什么影响?

单选题A型显示的探伤仪评定缺陷大小可利用的信息有()。A缺陷的反射波高、被反射的损失和自表面测得的缺陷延伸度B缺陷的反射波高C被反射的损失和自表面测得的缺陷延伸度D自表面测得的缺陷延伸度

单选题NB/T47013.3-2015标准规定,板材超声检测判定缺陷的三种情况是()A缺陷第一次反射波F1波幅高于距离-波幅曲线B双晶探头检测时,缺陷第一次反射波F1波幅大于或等于显示屏高度的50%C底面第一次反射波B1波幅低于显示屏高度的50%,即B1<50%D以上都是

多选题以下哪些缺陷尺寸的评定方法适用于焊缝等横波检测()A缺陷回波高度与底面回波高度比较B缺陷回波高度与参考反射体回波高度比较C以缺陷回波高度与基准波高的分贝差计算当量D缺陷指示长度测定

填空题影响缺陷反射波高度的因素有以下五个方面: ①(); ②对被检工件来说,有探测面形状、厚度、粗糙度、晶粒结构、声速、衰减等; ③从缺陷角度看,有缺陷的深度、形状、方向、大小、内部介质等; ④耦合剂的衰减、声速、厚度等能影响反射波高度; ⑤声束的方向、扩散角、能量等也影响反射波高度。

判断题锻件超声检测中,常见的非缺陷回波分为三角反射波、迟到波、密集缺陷反射波。A对B错

填空题对于缩径类缺陷,其反射波与入射波();对于扩径类缺陷,其反射波与入射波()。