在称量分析中,所用试剂含有微量被测组分,应该进行()。A、对照试验B、空白试验C、方法校正D、仪器校正

在称量分析中,所用试剂含有微量被测组分,应该进行()。

  • A、对照试验
  • B、空白试验
  • C、方法校正
  • D、仪器校正

相关考题:

下列情况所引起的误差中,不属于系统误差的是 :() A.移液管转移溶液后残留量稍有不同;B.称量时使用的砝码锈蚀;C.天平的两臂不等长;D.试剂里含有微量的被测组分

若试剂中含有微量被测组分,他对测定结果将产生()。 A、过失误差B、系统误差C、仪器误差D、偶然误差

在滴定分析中,所用试剂含有微量被测组分,应该进行()。A.对照试验B.空白试验C.校正方法D.校准仪器

在称量分析中,所用试剂含有微量被测组分,应该进行()。A.对照试验B.空白试验C.方法校正D.仪器校正

由于试剂含有微量被测组分,可采用()予以减免.

下列情况造成何种误差:分析天平零点略有变动为( )误差;分析试剂中含有微量待测组分为( )误差。

在化学分析中,常依照下面的规定来确定物质量范围: ⑴常量分析:是对被测物质大于0.1g以上的试样进行的分析; ⑵半微量分析:是对被测物质在10~100mg范围试样进行的分析; ⑶微量分析:是对被测物质在1~10mg范围试样进行的分析; ⑷超微量分析:是对被测物质在1mg以下的试样进行的分析; ⑸痕量分析:是对被测组分的含量小于0.01%的分析; ⑹超痕量分析:是对被测组分的含量小于0.001%的分析。 ( )此题为判断题(对,错)。

在滴定分析中,出现()的情况可导致系统误差。A.滴定管读数不准B.试剂未充分混匀C.试剂中含有微量被测组分D.滴定管漏液

试剂中含有微量被测组分所引起的误差属()。A、公差B、随机误差C、系统误差D、绝对偏差

试剂中含有微量被测组分,未经抵消校正所引起的误差是()A、偶然误差B、系统误差C、过失误差

试剂中含有微量被测组分,未经抵消校正所引起误差是()A、偶然误差B、系统误差C、过失误差

在分析测定中,下面情况哪些是属于系统误差() ①天平的两臂不等长; ②滴定管的读数看错; ③试剂中含有微量的被测组分; ④在沉淀重量法中,沉淀不完全。A、①②;B、①③;C、②③;D、①③④。

在分析过程中,下列情况属于偶然误差的是()。A、称量过程中天平零点略有变动B、分析用试剂中含有微量待测组分C、重量分析中,沉淀溶解损失D、读取滴定管读数时,最后一位数值估测不准

若试剂中含有被测微量组分则会引起偶然误差。

试剂中含有微量被测组分,未做空白校正所引起的误差是()A、偶然误差B、系统误差C、绝对误差

在进行超纯物质分析时,应当用()试剂处理试样,若用一般分析试剂,就可能引入含有数十倍甚至数百倍的被测组分。

分析测定中出现的下列情况,何种属于偶然误差()。A、滴定是所加试剂中含有微量的被测物质B、滴定管读取的数偏高或偏低C、所用试剂含有干扰离子D、室温升高

在滴定分析中出现的下列情况哪些导致系统误差?()A、试样未经充分拌均B、滴定时有溶液溅出C、滴定管读数读错D、所用试剂含有被测组分

测定时,若所用辅助试剂中含有少量待测组分时,将导致偶然误差。

滴定分析时,若所用试剂或水中含有被测组分,一般通过()方法进行扣除。A、仪器校正B、对照分析C、空白实验D、多次测定

在进行超纯物质分析时,应当用()试剂处理试样若用一般分析试剂,则可能引入含有数十倍甚至数百倍的被测组分.

在滴定分析中,出现()的情况可导致系统误差。A、滴定管读数不准B、试剂未充分混匀C、试剂中含有微量被测组分D、滴定管漏液

在滴定分析中,所用试剂含有微量被测组分,应该进行()。A、对照试验B、空白试验C、校正方法D、校准仪器

下列情况引起的误差属于偶然误差的有()。A、砝码腐蚀B、试剂中含有微量待测组分C、重量法测定SiO2时,试液中硅酸沉淀不完全D、样品称量过程中,环境温度和湿度微量波动

下列情况所引起的误差中,不属于系统误差的是:()A、移液管转移溶液后残留量稍有不同;B、称量时使用的砝码锈蚀;C、天平的两臂不等长;D、试剂里含有微量的被测组分

若试剂中含有微量被测组分,对测定结果将产生()A、过失误差;B、系统误差;C、仪器误差;D、偶然误差

单选题在滴定分析中出现的下列哪种情况能够导致系统误差()。A滴定管读数读错B试样未搅匀C所用试剂含有被测组分D滴定管漏液