下列情况所引起的误差中,不属于系统误差的是 :() A.移液管转移溶液后残留量稍有不同;B.称量时使用的砝码锈蚀;C.天平的两臂不等长;D.试剂里含有微量的被测组分
若试剂中含有微量被测组分,他对测定结果将产生()。 A、过失误差B、系统误差C、仪器误差D、偶然误差
在滴定分析中，所用试剂含有微量被测组分，应该进行()。A.对照试验B.空白试验C.校正方法D.校准仪器
在称量分析中，所用试剂含有微量被测组分，应该进行()。A.对照试验B.空白试验C.方法校正D.仪器校正
下列情况造成何种误差：分析天平零点略有变动为( )误差;分析试剂中含有微量待测组分为( )误差。
在化学分析中，常依照下面的规定来确定物质量范围： ⑴常量分析：是对被测物质大于0.1g以上的试样进行的分析; ⑵半微量分析：是对被测物质在10～100mg范围试样进行的分析; ⑶微量分析：是对被测物质在1～10mg范围试样进行的分析; ⑷超微量分析：是对被测物质在1mg以下的试样进行的分析; ⑸痕量分析：是对被测组分的含量小于0.01%的分析; ⑹超痕量分析：是对被测组分的含量小于0.001%的分析。 ( )此题为判断题(对，错)。
在滴定分析中，出现（）的情况可导致系统误差。A.滴定管读数不准B.试剂未充分混匀C.试剂中含有微量被测组分D.滴定管漏液
试剂中含有微量被测组分所引起的误差属（）。A、公差B、随机误差C、系统误差D、绝对偏差
试剂中含有微量被测组分，未经抵消校正所引起的误差是（）A、偶然误差B、系统误差C、过失误差
试剂中含有微量被测组分，未经抵消校正所引起误差是（）A、偶然误差B、系统误差C、过失误差
在分析测定中，下面情况哪些是属于系统误差（） ①天平的两臂不等长； ②滴定管的读数看错； ③试剂中含有微量的被测组分； ④在沉淀重量法中，沉淀不完全。A、①②；B、①③；C、②③；D、①③④。
在分析过程中，下列情况属于偶然误差的是（）。A、称量过程中天平零点略有变动B、分析用试剂中含有微量待测组分C、重量分析中，沉淀溶解损失D、读取滴定管读数时，最后一位数值估测不准
试剂中含有微量被测组分，未做空白校正所引起的误差是（）A、偶然误差B、系统误差C、绝对误差
在进行超纯物质分析时，应当用（）试剂处理试样，若用一般分析试剂，就可能引入含有数十倍甚至数百倍的被测组分。
分析测定中出现的下列情况，何种属于偶然误差（）。A、滴定是所加试剂中含有微量的被测物质B、滴定管读取的数偏高或偏低C、所用试剂含有干扰离子D、室温升高
在滴定分析中出现的下列情况哪些导致系统误差？（）A、试样未经充分拌均B、滴定时有溶液溅出C、滴定管读数读错D、所用试剂含有被测组分
测定时，若所用辅助试剂中含有少量待测组分时，将导致偶然误差。
滴定分析时，若所用试剂或水中含有被测组分，一般通过（）方法进行扣除。A、仪器校正B、对照分析C、空白实验D、多次测定
在进行超纯物质分析时，应当用（）试剂处理试样若用一般分析试剂，则可能引入含有数十倍甚至数百倍的被测组分.
在滴定分析中，出现（）的情况可导致系统误差。A、滴定管读数不准B、试剂未充分混匀C、试剂中含有微量被测组分D、滴定管漏液
在滴定分析中，所用试剂含有微量被测组分，应该进行（）。A、对照试验B、空白试验C、校正方法D、校准仪器
下列情况引起的误差属于偶然误差的有（）。A、砝码腐蚀B、试剂中含有微量待测组分C、重量法测定SiO2时，试液中硅酸沉淀不完全D、样品称量过程中，环境温度和湿度微量波动
下列情况所引起的误差中，不属于系统误差的是：（）A、移液管转移溶液后残留量稍有不同；B、称量时使用的砝码锈蚀；C、天平的两臂不等长；D、试剂里含有微量的被测组分
若试剂中含有微量被测组分，对测定结果将产生（）A、过失误差；B、系统误差；C、仪器误差；D、偶然误差
单选题在滴定分析中出现的下列哪种情况能够导致系统误差（）。A滴定管读数读错B试样未搅匀C所用试剂含有被测组分D滴定管漏液