若试剂中含有微量被测组分,对测定结果将产生 :() A.过失误差;B.系统误差;C.仪器误差;D.偶然误差
若试剂中含有微量被测组分,他对测定结果将产生()。 A、过失误差B、系统误差C、仪器误差D、偶然误差
分析测定中出现下列情况,何种属于随机误差:( ) A. 烘干基准物时没有达到恒重B. 滴定中所加试剂中含有微量的被测组分C. 滴定管未经校正D. 沉淀过程中沉淀有溶解E. 天平不等臂
分析测定中出现的下列情况，何种属于偶然误差( )。A.滴定时所加试剂中含有微量的被测物质B.滴定管读取的数偏高或偏低C.所用试剂含干扰离子D.室温升高
下列情况造成何种误差：分析天平零点略有变动为( )误差;分析试剂中含有微量待测组分为( )误差。
试剂中含有微量组分会引起( )。A.方法误差B.偶然误差C.过失误差D.试剂误差
在滴定分析中，出现（）的情况可导致系统误差。A.滴定管读数不准B.试剂未充分混匀C.试剂中含有微量被测组分D.滴定管漏液
试剂中含有微量被测组分所引起的误差属（）。A、公差B、随机误差C、系统误差D、绝对偏差
测定中出现下列情况，属于随机误差的是（）。A、测定时有少量溶液溅出B、过滤时出现透滤现象C、滴定时所用试剂中有微量被测组分D、读取滴定管读数时，最后一位估计不准
试剂中含有微量被测组分，未经抵消校正所引起的误差是（）A、偶然误差B、系统误差C、过失误差
试剂中含有微量被测组分，未经抵消校正所引起误差是（）A、偶然误差B、系统误差C、过失误差
在分析测定中，下面情况哪些是属于系统误差（） ①天平的两臂不等长； ②滴定管的读数看错； ③试剂中含有微量的被测组分； ④在沉淀重量法中，沉淀不完全。A、①②；B、①③；C、②③；D、①③④。
当试剂中含有微量被测组份时，将引起什么误差（）。A、系统误差B、偶然误差C、过失误差
试剂中含有微量被测组分，未做空白校正所引起的误差是（）A、偶然误差B、系统误差C、绝对误差
分析测定中出现的下列情况，何种属于偶然误差（）。A、滴定是所加试剂中含有微量的被测物质B、滴定管读取的数偏高或偏低C、所用试剂含有干扰离子D、室温升高
测定时，若所用辅助试剂中含有少量待测组分时，将导致偶然误差。
滴定分析时，若所用试剂或水中含有被测组分，一般通过（）方法进行扣除。A、仪器校正B、对照分析C、空白实验D、多次测定
在滴定分析中，出现（）的情况可导致系统误差。A、滴定管读数不准B、试剂未充分混匀C、试剂中含有微量被测组分D、滴定管漏液
在滴定分析中，所用试剂含有微量被测组分，应该进行（）。A、对照试验B、空白试验C、校正方法D、校准仪器
试剂中含有微量组分会引起（）A、方法误差B、偶然误差C、过失误差D、试剂误差
下列情况引起的误差属于偶然误差的有（）。A、砝码腐蚀B、试剂中含有微量待测组分C、重量法测定SiO2时，试液中硅酸沉淀不完全D、样品称量过程中，环境温度和湿度微量波动
下列测定中产生的误差，（）属于偶然误差。A、过滤时使用了定性滤纸，最后灰分加大B、滴定管读数时，最后一位估计不准C、试剂中含有少量的被测组分D、滴定分析中，反应进行不完全。
下列情况对测定结果带来的误差，属于系统误差的是（）A、使用的器皿不洁净B、试剂中含有微量的待测组分C、天平内温度的波动D、滴定管漏水
单选题下列测定中产生的误差，（）属于偶然误差。A过滤时使用了定性滤纸，最后灰分加大B滴定管读数时，最后一位估计不准C试剂中含有少量的被测组分D滴定分析中，反应进行不完全。
单选题若试剂中含有微量被测组分，对测定结果将产生（）A过失误差；B系统误差；C仪器误差；D偶然误差