红外线气体分析仪参比气室漏气,仪表示值会有什么变化?

红外线气体分析仪参比气室漏气,仪表示值会有什么变化?


相关考题:

红外线气体分析仪的基本元件有:()A、光源B、气室C、检测器D、切光器

红外线分析仪零点连续正漂的原因有()。A、检测器漏气B、测量气室被污染或腐蚀C、晶片上有尘埃D、气室漏气

红外分析仪发送器部分的红外辐射光源部分主要部件是()。A、辐射源B、测量气室C、滤光气室D、参比气室

红外线分析仪使用的气室有()。A、参比气室B、检测器气室C、滤波气室D、测量气室

双光路红外分析仪通常采用薄膜检测器,其接受气室要充有()气体。A、待测气B、氮气C、参比气体D、少量惰性气体

测量循环气体中CO浓度采用的仪器是()。A、气相色谱B、磁氧压力式气体分析仪C、红外线气体分析仪D、液相色谱

下列选项中,()会造成红外线气体分析仪灵敏度下降。A、测量气室漏气B、检测器电容短路C、检测器漏气D、测量气室被污染

热导检测器式分析仪参比气室中封装的气体的热导率及性能应与()相近。A、背景组分B、被测组分C、混合气体D、惰性气体

红外线分析仪测量气室或晶片被污染后,使仪器灵敏度下降,测量误差增大,在清洗气室及窗口晶片时,要选择相应的清洗剂,严禁破坏()的光滑度。A、切光片B、气室内壁C、晶片D、参比室

Uras14红外线气体分析仪面板上有一符号“%MRS”,表示什么?

在干扰组分浓度高或与待测组分特征吸收波长交叉较多时,红外线分析仪一般采用()进行滤波。A、参比气室B、干涉滤光片C、滤波气室D、测量气室

红外线分析仪参比气室内封装()气体。A、测量气体B、干扰组分C、中性气体D、混合气体

红外线分析仪检测器内封装()气体。A、被测气体B、干扰组分C、中性气体D、参比气体

采用电容式检测器的红外线气体分析仪,如果检测室漏气将会引起仪表()。A、示值零点升高B、示值零点降低C、灵敏度升高D、灵敏度降低

红外线气体分析仪测量室的长度与()相关。

当红外线分析仪采用滤波气室时,滤波气室内封装()气体。A、测量气体B、干扰组分C、中性气体D、氮气

红外线气体分析仪产生回程的原因是()。A、检测器故障B、测量室污染C、测量光路比参比光路的光强D、参比光路比测量光路的光强

红外线分析仪在使用中灵敏度不断下降,主要原因有检测电容漏气、电子线路放大转换器老化、()、光源及射镜污染。A、参比室污染B、滤波室漏气C、光源器件老化D、样品流量小

在线红外线气体分析仪的测量气室脏了用什么清洗?

红外线分析仪中,待测组分外的其他组分都叫()。A、参比气体B、载气C、背景气体D、稀释气

下列选项中,()会造成红外线气体分析仪指示回零。A、切光片松动B、检测器电容短路C、测量气室漏气D、光路透镜污染

当干扰组分较多或进行微量分析时,红外线分析仪一般采用()进行滤波。A、参比气室B、干涉滤光片C、滤波气室D、测量气室

双光路红外分析仪有干扰组分存在时通常在测量气室前加(),用来克服背景气体的干扰。A、参比气室B、滤波气室C、过滤器组件D、相位调整器

红外线气体分析仪红外光源经切光装置分别进入工作气室和参比气室进行比较,参比气室中充入对红外线不吸收的()。A、氧气B、氮气C、一氧化碳D、二氧化碳

测量循环气体中的氧气浓度是采用()。A、磁氧压力式气体分析仪B、红外线气体分析仪C、气相色谱D、液相色谱

对红外线气体分析器进行校正时,用标准气对参比气室进行校正。

AR202N测量室的参比气室充有()A、吸收红外线辐射气体B、不吸收红外线辐射的惰性气体C、待测气体D、干扰气体