红外线气体分析仪的基本元件有：（）A、光源B、气室C、检测器D、切光器
与双光路红外分析仪相比单光路红外分析仪采用一个光源，参比测量共用一个光学通路，使其具有（）优点。A、结构简单B、可靠性高C、耐振性好D、灵敏度高
双光路红外线分析仪中干涉滤光片、滤波气室的作用是（）。A、去掉干扰组分B、增加光强C、平衡气路D、光路平衡
红外线分析仪使用的气室有（）。A、参比气室B、检测器气室C、滤波气室D、测量气室
薄膜电容检测器是红外气体分析仪长期使用的传统检测器，通常定片与薄膜间电容量为（）pF。A、2～10B、2.5～25C、10～50D、40～100
红外分析仪的发送器包括（）。A、红外辐射光源B、气室C、检测器D、滤光元件
红外线分析仪指示为零的原因有（）。A、样品压力小B、切光马达启动力矩不足C、光路透镜污染D、检测器电容短路
下列选项中，（）会造成红外线气体分析仪灵敏度下降。A、测量气室漏气B、检测器电容短路C、检测器漏气D、测量气室被污染
双光路红外分析仪通常采用（）。A、薄膜电容检测器B、半导体检测器C、光电检测器D、微电流检测器
红外线气体分析仪薄膜电容检测器漏气会造成仪表（）。A、指示回零B、指示满度C、零点连续正漂D、灵敏度下降
红外线分析仪常用的检测器有（）、半导体和微流量检测器三种。A、电阻式B、薄膜电容C、电感式D、电解式
检测器接收交替变化的光波信号并将其转变为交变的电信号，此交变电信号的振幅与被测气体组分浓度成正比的紫外线气体分析仪的类型是（）。A、切光滤光式B、双光路滤光式C、分光式（光纤式）D、分光束式
采用薄膜电容检测器的红外线分析仪切光频率的选择与（）有关。A、检测器的灵敏度B、切光片的几何尺寸C、光源强度D、切光马达
常用紫外线气体分析仪的结构类型有（）。A、分光束式B、切光滤光式C、双光路滤光式D、分光式（光纤式）
红外线分析仪检测器内封装（）气体。A、被测气体B、干扰组分C、中性气体D、参比气体
采用电容式检测器的红外线气体分析仪，如果检测室漏气将会引起仪表（）。A、示值零点升高B、示值零点降低C、灵敏度升高D、灵敏度降低
当红外线分析仪采用滤波气室时，滤波气室内封装（）气体。A、测量气体B、干扰组分C、中性气体D、氮气
红外线气体分析仪产生回程的原因是（）。A、检测器故障B、测量室污染C、测量光路比参比光路的光强D、参比光路比测量光路的光强
红外线气体分析仪薄膜电容检测器电容短路会造成仪表（）。A、指示回零B、指示满度C、零点连续正漂D、灵敏度下降
薄膜电容检测器是红外气体分析仪长期使用的传统检测器，通常定片与薄膜间绝缘电阻要大于（）MΩ。A、105B、40C、10D、5
下列选项中，（）会造成红外线气体分析仪指示回零。A、切光片松动B、检测器电容短路C、测量气室漏气D、光路透镜污染
红外分析仪在用于气体分析时，其源端与检测器端可采用（）安装方式。A、水平B、垂直C、倾斜D、没有特殊要求
可能导致红外线分析仪灵敏度下降的原因有（）。A、样品流量大B、检测器漏气C、光路透镜污染D、元件老化
双光路红外分析仪有干扰组分存在时通常在测量气室前加（），用来克服背景气体的干扰。A、参比气室B、滤波气室C、过滤器组件D、相位调整器
红外二氧化碳分析仪中的薄膜电容检测器内应充入（）气体.A、H2B、N2C、CO2D、隋性气体
红外线气体分析仪红外光源经切光装置分别进入工作气室和参比气室进行比较，参比气室中充入对红外线不吸收的（）。A、氧气B、氮气C、一氧化碳D、二氧化碳
红外分析仪的结构型式较多；分类方法各异，从采用的检测器类型来划分可分为（）。A、分光型和不分光型B、单光路和双光路C、色散型和非色散型D、薄膜电容检测器、半导体检测器和微流量检测器