后分光的光路是A、光源→样品→分光元件→检测器B、光源→分光元件→样品→检测器C、样品→光源→分光元件→检测器D、样品→分光元件→光源→检测器E、分光元件→光源→样品→检测器
前分光的光路特点是A．光源→分光元件→样品→检测器B．光源→样品→分光元件→检测器C．样品→分光元件→光源→检测器D．样品→光源→分光元件→检测器E．分光元件→样品→光源→检测器
OFA石油荧光分析仪的测量过程为()。 A、光源→激光滤光片→样品室→发射接收光栅→检测器→计算机→显示B、光源→发射接收光栅→样品室→激光滤光片→检测器→计算机→显示C、光源→激光滤光片→样品室→发射接收光栅→计算机→检测器→显示D、光源→激光滤光片→样品室→检测器→发射接收光栅→计算机→显示
前分光的光路特点是A．光源一分光元件一样品一检测器B．光源一样品一分光元件一检测器C．样品一分光元件一光源一检测器D．样品一光源一分光元件一检测器E．分光元件一样品一光源一检测器
红外线分析仪零点连续正漂的原因有（）。A、检测器漏气B、测量气室被污染或腐蚀C、晶片上有尘埃D、气室漏气
红外线分析仪使用的气室有（）。A、参比气室B、检测器气室C、滤波气室D、测量气室
双光路红外分析仪通常采用薄膜检测器，其接受气室要充有（）气体。A、待测气B、氮气C、参比气体D、少量惰性气体
红外分析仪的发送器包括（）。A、红外辐射光源B、气室C、检测器D、滤光元件
红外线分析仪指示为零的原因有（）。A、样品压力小B、切光马达启动力矩不足C、光路透镜污染D、检测器电容短路
实际应用最广泛的可燃性气体报警仪有（）两种。A、半导体气敏元件检测器B、催化反应热式检测器C、气相色谱式检测器D、热磁式检测器
单光路红外分析仪在切光片上装有两组（），用来将红外光源调制成两组不同波长范围的光束，分别作为测量光束与参比光束。A、滤波气室B、参比气室C、干涉滤光片D、光源反射镜
下列选项中，（）会造成红外线气体分析仪灵敏度下降。A、测量气室漏气B、检测器电容短路C、检测器漏气D、测量气室被污染
热导检测器式分析仪参比气室中封装的气体的热导率及性能应与（）相近。A、背景组分B、被测组分C、混合气体D、惰性气体
采用薄膜电容检测器的红外线分析仪切光频率的选择与（）有关。A、检测器的灵敏度B、切光片的几何尺寸C、光源强度D、切光马达
红外线分析仪的（）应频率稳定，波动不能超过0.5HZ，波形不能有畸变。A、同步电机B、供电电源C、光源D、检测器
红外线分析仪检测器内封装（）气体。A、被测气体B、干扰组分C、中性气体D、参比气体
当红外线分析仪采用滤波气室时，滤波气室内封装（）气体。A、测量气体B、干扰组分C、中性气体D、氮气
红外线气体分析仪在检测过程中环境温度的变化可能对（）造成影响。A、红外辐射的强度B、测量气室连续流动的气样密度C、检测器的正常工作D、气样放空流速
红外线气体分析仪产生回程的原因是（）。A、检测器故障B、测量室污染C、测量光路比参比光路的光强D、参比光路比测量光路的光强
红外线分析仪指示出现摆动干扰可能的原因是（）。A、晶片上有尘埃B、检测器漏气C、切光片松动D、元件老化
下列选项中，（）会造成红外线气体分析仪指示回零。A、切光片松动B、检测器电容短路C、测量气室漏气D、光路透镜污染
可能导致红外线分析仪灵敏度下降的原因有（）。A、样品流量大B、检测器漏气C、光路透镜污染D、元件老化
红外线气体分析仪红外光源经切光装置分别进入工作气室和参比气室进行比较，参比气室中充入对红外线不吸收的（）。A、氧气B、氮气C、一氧化碳D、二氧化碳
不分光红外线气体分析仪中，由红外线光源、气样室、旋转扇轮（截光器）、测量室和传感器等组成的是（）。A、废气取样装置B、废气分析装置C、浓度指示装置
单选题后分光的光路是（）。A光源→样品→分光元件→检测器B光源→分光元件→样品→检测器C样品→光源→分光元件→检测器D样品→分光元件→光源→检测器E分光元件→光源→样品→检测器
单选题不分光红外线气体分析仪中，由红外线光源、气样室、旋转扇轮（截光器）、测量室和传感器等组成的是（）。A废气取样装置B废气分析装置C浓度指示装置