半机械半电子测量系统在测量中每次可以测量多个控制点,或多个控制点之间的位置参数。( ) 此题为判断题(对,错)。
半机械半电子测量系统在测量中每次可以测量多个控制点,或多个控制点之间的位置参数。( )
此题为判断题(对,错)。
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此题为判断题(对,错)。