用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。 A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。
A、球面干涉
B、等倾干涉
C、等厚干涉
相关考题：
若有一量具工作面的平面度为0.010mm,为了达到检定结果的准确起见,该工作面的平面度采用合适的检定方法为()。 A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶的技术光波干涉法检定C、用刀口尺以量块比较法检定
13、牛顿环测量透镜曲率半径实验中，光波波长越长，则（）？A．同级干涉环直径越大，干涉条纹越疏。B．同级干涉环直径越大，干涉条纹越密。C．同级干涉环直径越小，干涉条纹越疏。D．同级干涉环直径越小，干涉条纹越密。
迈克尔孙干涉实验中，干涉仪两平面反射镜严格垂直时，形成等厚干涉条纹。